田沼 繁夫 | 物質・材料研究機構
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概要
関連著者
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田沼 繁夫
物質・材料研究機構
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田沼 繁夫
独立行政法人物質・材料研究機構
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田沼 繁夫
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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田沼 繁夫
独立行政法人物質・材料研究機構 ナノ計測センター先端表面化学分析グループ
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田沼 繁夫
物質・材料研究機構分析支援ステーション
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木村 隆
日本テキサス・インスツルメンツ
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木村 隆
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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木村 隆
独立行政法人物質・材料研究機構 ナノ計測センター先端表面化学分析グループ
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木村 隆
物質・材料研究機構
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木村 隆
物質・材料研究機構 分析ステーション
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西田 憲二
電力中央研究所材料科学研究所
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橋本 哲
鋼管計測(株)
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橋本 哲
鋼管計測株式会社分析センター
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福島 整
科学技術庁無機材質研究所
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橋本 哲
NKK鉄鋼研究所
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橋本 哲
日本鋼管(株)中央研究所
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福島 整
無機材研
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福島 整
独立行政法人物質・材料研究機構 ナノ計測センター先端表面化学分析グループ
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福島 整
無機材質研究所
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橋本 哲
日本鋼管
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福島 整
物質・材料研究機構
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木村 隆土
福島県立医科大学第一外科
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永富 隆清
大阪大学大学院工学研究科生命先端工学専攻
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井上 雅彦
摂南大学工学部
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鈴木 峰晴
アルバック・ファイ株式会社
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岩井 秀夫
独立行政法人物質・材料研究機構
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田中 彰博
アルバック・ファイ株式会社
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井上 雅彦
摂南大理工
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岩井 秀夫
立命館大理工:アルバックファイ
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木村 隆
福島県立医科大学臓器再生外科
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荻原 俊弥
物質・材料研究機構
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吉川 英樹
独立行政法人物質・材料研究機構物質研究所はりまオフィス
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福島 整
独立行政法人物質・材料研究機構物質研究所はりまオフィス
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吉川 英樹
物材機構
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西田 憲二
物質・材料研究機構
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吉川 英樹
科学技術庁無機材質研究所
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木村 隆
独立行政法人物質・材料研究機構
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橋本 哲
鋼管計測 物理分析室
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三浦 薫
韓徳化学株式会社
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吉川 英樹
独立行政法人物質・材料研究機構
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荻原 俊弥
独立行政法人物質・材料研究機構
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吉川 英樹
独立行政法人日本原子力研究開発機構
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高井 治
名古屋大学大学院工学研究科
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荻原 俊弥
独立行政法人物質・材料研究機構分析支援ステーション
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田中 彰博
アルバック・ファイ(株)
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小林 啓介
物材機構
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斎藤 芳男
高エ研
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高井 治
名古屋大 大学院工学研究科
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高井 治
名古屋大学
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吉川 英樹
物材機構はりま
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福島 整
物質・材料研究機構物質研究所
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岸田 悟
鳥取大学工学部電気電子工学科
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岸田 悟
鳥取大学大学院工学研究科
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朝日 一
大阪大学 産業科学研究所
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朝日 一
阪大産研
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朝日 一
大阪大学産業科学研究所
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森田 清三
大阪大学大学院工学研究科
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菅井 秀郎
中部大学大学院工学研究科
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吉田 豊信
東京大学大学院工学系研究科
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塚田 捷
早稲田大学大学院理工学研究科
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齊藤 芳男
高エネルギー加速器研究機構加速器研究施設
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小畠 雅明
NIMS
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小林 啓介
独立行政法人物質・材料研究機構
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山田 浩之
日本電子株式会社電子機器技術本部
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石川 信博
物材機構
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杉崎 敬
メルテックス株式会社 研究部
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石川 信博
物質・材料研究機構 分析ステーション
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木下 健太郎
鳥取大学工学研究科電気電子工学専攻
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依田 貴稔
鳥取大学電気電子工学科
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木下 健太郎
鳥取大学電気電子工学科
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塚田 捷
東京大学大学院理学系研究科・理学部
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岸田 悟
鳥取大学工学研究科電気電子工学専攻
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塚田 捷
東北大学原子分子材料科学高等研究機構
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塚田 捷
東京大学理学部
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田澤 豊彦
日本電子株式会社電子光学機器本部
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塚本 一徳
日本電子株式会社電子光学機器本部
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斎藤 芳男
高エネルギー加速器研究機構
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杉崎 敬
メルテックス(株)技術研究所研究部
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小畠 雅明
独立行政法人物質・材料研究機構
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PIS Igor
National Institute for Materials Science
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Morita S
Faculty Of Engineering Osaka University
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Morita S
Osaka Univ. Osaka
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吉田 豊信
東京大学工学部
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一村 信吾
産業技術総合研究所
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岸田 悟
鳥大工
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塚田 捷
早稲田大学大学院理工学研究科ナノ理工学専攻
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一村 信吾
工業技術院電子技術総合研究所 極阪技術部
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一村 信吾
電子技術総合研究所極限技術部
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Sugai Hideo
Department Of Electrical Engineering School Of Engineering Nagoya Univeristy
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菅井 秀郎
名古屋大
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Sugai Hideo
Department Of Electrical Engineering Graduate School Of Engineering Nagoya University
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Sugai Hideo
Nagoya University
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齋藤 芳男
高エネルギー加速器研究機構
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塚田 捷
東京大学理学部物理学科
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井上 雅彦
摂南大学 工学部
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鈴木 峰晴
NTT-AT 分析センタ
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三浦 薫
トクヤマ(株) 筑波研究室
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高井 治
名古屋大学エコトピア科学研究所・大学院工学研究科
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齊藤 芳男
大学共同利用法人・高エネルギー加速器研究機構・加速器研究施設
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菅井 秀郎
中部大学工学部電気システム工学科
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吉田 豊信
東大・工
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Morita Shigenori
Department Of Electronic Engineering Osaka University
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Tsukada Mineharu
Fujitsu Laboratories Inorganic Materials & Polymers Laboratory
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石川 信博
物質・材料研究機構
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永富 隆清
大阪大学大学院工学研究科物質・生命工学専攻
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塚田 捷
早稲田大学大学院
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菅井 秀郎
中部大学
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Mishima Syuzo
Research Department Olympus Optical Co. Ltd.
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岸田 悟
鳥取大 大学院工学研究科
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吉田 豊信
東京大学
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岸田 悟
鳥取大学電子ディスプレイ研究センター
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Morita Seizo
Graduate School Of Engineering Osaka University
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吉田 豊信
東京大学大学院工学系研究科マテリアル工学専攻
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吉田 豊信
東京大学工学部金属工学科
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吉田 豊信
東京大学工学部マテリアル工学科
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依田 貴稔
鳥取大学工学部電気電子工学科
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吉田 豊信
東京大学大学院工学系研究科金属工学専攻
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岩井 秀夫
物質・材料研究機構
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萩原 俊弥
物質・材料研究機構
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杉崎 敬
メルテックス 技研
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齊藤 芳男
高エネルギー加速器研究機構
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金 慶中
韓國標準科學研究院
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田澤 豊彦
日本電子株式会社
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塚田 捷
早稲田大学理工学術院
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田中 彰博
アルバック・ファイ (株)
著作論文
- 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析 (第34回表面分析研究会講演資料)
- IUVSTA Scientific and Technical Divisions (STD) の報告
- フィールド・エミッション電子銃を搭載した波長分散型サブミクロンEPMAの開発
- 二酸化シリコン薄膜(SiO_2)の電子線照射損傷を定量的に評価する
- EPMA散布図分析を応用したNi-P無電解メッキとはんだ接合域の解析(I)
- 超軟X線分光におけるLi Kα強度への化学状態の影響
- 電子線励起超軟X線分光分析装置の開発
- XPSによる表面分析入門
- ラボ用硬X線光電子分光装置の開発
- 実用電子分光法講座 第2回講義メモ(1993.5.31) (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- 実用電子分光法講座 第一回講義メモ(1993.2.4) (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- フィールド・エミッション電子銃を搭載した波長分散型サブミクロンEPMAの開発
- 電子線照射によるSiO_2/Si試料損傷の低エネルギーオージェピークを用いた定量的評価
- AESによるSiO2/Si試料表面の電子線照射損傷評価〔含 質疑〕
- AESによる非破壊計測--Si/BN多層膜 (表面分析研究会 第35回研究会 講演資料)
- 標準物質と表面分析の標準化(1) (表面分析研究会 第35回研究会 講演資料)
- VAMAS活動における日中韓3カ国国際協力の会議報告
- Calculations of electron inelastic mean free paths (9) Data for 41 elemental solids over the 50 eV to 30 keV range (2009年度実用表面分析講演会(PSA-09)講演資料)
- 話題 ISOにおけるAESのエネルギー軸校正法
- XPSエネルギー軸目盛りの較正法に関するISO規格"表面化学状態分析-X線光電子分光装置-エネルギー軸目盛りの較正(ISO15472)"
- 電子分光法による表面分析の動向
- 表面分析の復権
- オージェ電子分光法, X線光電子分光法による表面定量分析の国際標準化
- 電子分光法による表面分析における信号強度の減衰
- X線光電子分光法およびオージェ電子分光法による定量分析の標準化
- 電子分光法の標準化
- 表面電子分光法における電子の散乱効果の研究
- X線光電子分光法における有機化合物のX線照射試料損傷評価法の開発.ラウンドロビン試験結果
- オージェ電子分光法、X線光電子分光法 (解説 ISO/TC201表面化学分析の現状と動向)
- 原子間力顕微鏡を用いたReRAMフィラメントの物性解析(不揮発性メモリ,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
- 表面分析が産業界に果たした役割
- 講義 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか?(3)XPSおよびAESによる表面定量分析法
- 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか?(2)誘電関数とIMFP
- 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか?(1)概要
- PSA-01(Practical Surface Analysis 2001)
- 信号の脱出過程の基礎 (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- 関根哲氏をしのぶ
- 傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射による超高深さ分解能オージェ深さ方向分析
- オージェ電子分光法における背面散乱補正(1)広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発
- 感度係数法による表面定量分析の現状と課題 (第38回表面分析研究会講演資料)