話題 ISOにおけるAESのエネルギー軸校正法

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 表面分析研究会の論文

著者

• 橋本 哲

  鋼管計測(株)

• 橋本 哲

  鋼管計測株式会社分析センター

• 橋本 哲

  NKK鉄鋼研究所

• 橋本 哲

  日本鋼管(株)中央研究所

• 橋本 哲

  日本鋼管

• 田沼 繁夫

  物質・材料研究機構

関連論文

• 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析 (第34回表面分析研究会講演資料)
• 合金化溶融亜鉛めっき鋼板の接着性に及ぼす表面酸化物の影響
• 溶融亜鉛めっき鋼板の合金化挙動に及ぼす前処理の影響
• 硝酸イオン添加クロメートによる耐黒変性向上機構
• 溶融亜鉛めっき鋼板の合金化に及ぼす鋼中の P の影響
• Ni系無機潤滑皮膜による合金化溶融亜鉛めっき鋼板の成形性改善
• 電気Zn-Cr合金めっき皮膜の結晶構造
• 高潤滑性合金化溶融亜鉛めっき鋼板--PZA-N
• 加熱による電気ZnNi合金めっき皮膜の結晶構造変化
• 溶融亜鉛めっき鋼板の合金化処理におけるΓおよびΓ_1相の成長挙動
• 無機潤滑皮膜を被覆した合金化溶融亜鉛めっき鋼板の諸特性
• 溶融亜鉛めっき鋼板の合金化挙動に及ぼす鋼中Pの表面偏析の影響
• Zn-Mn合金電気めっきの皮膜構造解析
• 熱延鋼板における溶融亜鉛めっき合金化挙動
• 低加速Arイオン照射によるTiO2のTi 2p XPSスペクトルの変化
• Si含有鋼板の表面構造と溶融亜鉛めっき密着性の関係
• オージェ電子分光法定量分析における装置補正因子
• 酸化物試料の X 線光電子分光法による定量分析
• イオンスパッタリングによる酸化物の X 線光電子ペクトルの変化
• 深さ方向分析におけるイオンスパッタリング収率の測定
• オージェ電子分光法による状態分析のためのスペクトル微細構造観察
• 討 35 イオン注入試料を用いた IMA による鋼中微量元素の定量分析法(V 鉄鋼における表面分析の現状と問題点, 第 111 回 講演大会討論会講演概要)
• 321 鉄-亜鉛合金電気めっき鋼板界面の分析(元素分析, 表面分析, 分析, 日本鉄鋼協会第 108 回(秋季)講演大会)
• IUVSTA Scientific and Technical Divisions (STD) の報告
• フィールド・エミッション電子銃を搭載した波長分散型サブミクロンEPMAの開発
• 二酸化シリコン薄膜(SiO_2)の電子線照射損傷を定量的に評価する
• EPMA散布図分析を応用したNi-P無電解メッキとはんだ接合域の解析(I)
• 超軟X線分光におけるLi Kα強度への化学状態の影響
• 電子線励起超軟X線分光分析装置の開発
• XPSによる表面分析入門
• ラボ用硬X線光電子分光装置の開発
• 実用電子分光法講座 第2回講義メモ(1993.5.31) (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
• 実用電子分光法講座 第一回講義メモ(1993.2.4) (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
• フィールド・エミッション電子銃を搭載した波長分散型サブミクロンEPMAの開発
• 電子線照射によるSiO_2/Si試料損傷の低エネルギーオージェピークを用いた定量的評価
• AESによるSiO2/Si試料表面の電子線照射損傷評価〔含 質疑〕
• Zn-Mn合金電気めっきの皮膜構造解析
• EPMAを用いた化学状態別深さ方向分析法
• 540 Nb, B 含有極低炭素鋼の熱間圧延後の変態挙動と組織形成(レール鋼・軸受鋼・熱延鋼板, 材料, 日本鉄鋼協会第 111 回(春季)講演大会)
• クロメート処理亜鉛めっき鋼板の性能におよぼす経時時間の影響
• リートベルト法による鋼中析出物の形態別定量分析法
• AESによる非破壊計測--Si/BN多層膜 (表面分析研究会 第35回研究会 講演資料)
• 新しい表面観察としての極低加速電圧SEM (表面分析研究会 第33回研究会 講演資料)
• 標準物質と表面分析の標準化(1) (表面分析研究会 第35回研究会 講演資料)
• VAMAS活動における日中韓3カ国国際協力の会議報告
• Calculations of electron inelastic mean free paths (9) Data for 41 elemental solids over the 50 eV to 30 keV range (2009年度実用表面分析講演会(PSA-09)講演資料)
• PSA07; 4th International Symposium on Practical Surface Analysisを開催して
• 分析現場におけるEPMAの最近の動向に関するアンケート調査から (特集 EPMAの最近の展開)
• XPSスペクトル変化に現れるイオン照射による金属酸化物の損傷
• XPSおよびAES電子分光器の校正法に関するISO規格
• XPSスペクトルに現れるイオン照射による酸化物の変化
• 話題 ISOにおけるAESのエネルギー軸校正法
• 亜鉛系めっき皮膜の構造と耐食性
• XPSエネルギー軸目盛りの較正法に関するISO規格"表面化学状態分析-X線光電子分光装置-エネルギー軸目盛りの較正(ISO15472)"
• 電子分光法による表面分析の動向
• EPMAを用いた化学状態別分布の評価
• 第4回亜鉛および亜鉛合金めっき鋼板国際会議(GALVATECH '98)報告
• 亜鉛系めっき鋼板上に生成する腐食生成物の構造解析
• 先端追跡
• Fe-42Ni 合金における微量元素の表面偏析(表面分析)(分析評価・解析)
• 24p-Q-12 TEM/PEELSを用いた状態分析
• 表面分析の復権
• オージェ電子分光法, X線光電子分光法による表面定量分析の国際標準化
• 電子分光法による表面分析における信号強度の減衰
• X線光電子分光法およびオージェ電子分光法による定量分析の標準化
• 電子分光法の標準化
• 表面電子分光法における電子の散乱効果の研究
• X線光電子分光法における有機化合物のX線照射試料損傷評価法の開発.ラウンドロビン試験結果
• オージェ電子分光法、X線光電子分光法 (解説 ISO/TC201表面化学分析の現状と動向)
• 原子間力顕微鏡を用いたReRAMフィラメントの物性解析(不揮発性メモリ,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
• 表面分析が産業界に果たした役割
• アモルファスWO3-TiO2薄膜を用いたEC素子の寿命
• 講義 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか?(3)XPSおよびAESによる表面定量分析法
• 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか?(2)誘電関数とIMFP
• 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか?(1)概要
• PSA-01(Practical Surface Analysis 2001)
• 信号の脱出過程の基礎 (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
• 関根哲氏をしのぶ
• 溶融亜鉛めっき鋼板の合金化挙動に及ぼす鋼板前処理の影響
• 傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射による超高深さ分解能オージェ深さ方向分析
• オージェ電子分光法における背面散乱補正(1)広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発
• 感度係数法による表面定量分析の現状と課題 (第38回表面分析研究会講演資料)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク