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表面分析研究会 | 論文
- X線励起と電子線励起のCr Augerスペクトルの比較(その後) (表面分析研究会 第40回研究会 講演資料)
- Auger electron spectral analysis of 2nd periodic atom (表面分析研究会 第42回研究会 講演資料)
- The "Spectral Data Processor" for Windows 3.1, 95, 98, NT or OS/2 and The "SpecMaster Pro"Digital Databese System of 35,000 XPS Spectra
- Laboratory XPS Imaging: Improved Procedures and Data Analysis
- Peak Intensity Measurements in the Early Days of AES
- Effects of Charging and Crystallinity on Sputter-Etching Rate of Al2O3 Single Crystal
- Excess Volume in Grain Boundary Segregation (Proceedings of the 6th International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-13))
- ECASIA'99日記
- 固体中の電子の運動を見る
- Degradation of organic silane monolayers on silicon wafer during XPS measurement (Proceedings of the 6th International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-13))
- Evaluation of Detection Efficiency of Atom Probe Tomography (Proceedings of the 6th International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-13))
- 70th IUVSTA Workshop for Surface Analysis and Standardization 2013 (iSAS-13)開催報告
- 球面自己組織化マップ(SSOM)法による各種判別データでのデータ要素間の有意度の算出 (表面分析研究会 第40回研究会 講演資料)
- XPSにおける自動ピークIDに関するRRT報告 : VAMAS/TWA2/A9最終報告 (表面分析研究会 第40回研究会 講演資料)
- Surface Properties and Characterization of PSII-modified Polymers
- COMPROに追加するAES標準スペクトル : Cr, Ca, GaP, Mn, Ti (表面分析研究会 第41回研究会 講演資料)
- Common Data Processing System Version 10の使用法(4)データベース
- 表面分析のシミュレーター用入力ファイル及び参照スペクトルの記述のためのXMLを用いた共通データフォーマットの提案 (表面分析研究会 第41回研究会 講演資料)
- XPS分析時における試料温度測定
- The Basis of Electron Spectroscopy for Surface Analysis