岩井 秀夫 | 独立行政法人物質・材料研究機構
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概要
関連著者
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岩井 秀夫
独立行政法人物質・材料研究機構
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岩井 秀夫
立命館大理工:アルバックファイ
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吉川 英樹
物材機構
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吉川 英樹
科学技術庁無機材質研究所
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鈴木 峰晴
アルバック・ファイ株式会社
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田沼 繁夫
独立行政法人物質・材料研究機構 ナノ計測センター先端表面化学分析グループ
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田沼 繁夫
独立行政法人物質・材料研究機構
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田沼 繁夫
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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田沼 繁夫
物質・材料研究機構
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小黒 英俊
東北大金研
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平田 和人
金材技研
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吉川 英樹
独立行政法人物質・材料研究機構物質研究所はりまオフィス
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畑 慶明
防衛大応用物理
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安岡 宏
防衛大応用物理
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茂筑 高士
物材機構
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茂筑 高士
NIMS
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石垣 徹
茨城大
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平田 和人
NIMS
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畑 慶明
防衛大応物
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小黒 英俊
東北大学金研・強磁場超伝導材料研究センター
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小黒 英俊
茨城大学 フロンティア応用原子科学研究センター
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土屋 佳則
NIMS
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安岡 宏
防衛大
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畑 慶明
防衛大
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石垣 徹
茨城大学フロンティア応用原子科学研究センター設立準備室
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石垣 徹
室蘭工大工
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茂筑 高士
筑波大学数理物質:物材機構超伝導材料セ
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茂筑 高士
超伝導材料研究センター
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星川 晃範
原子力機構・量子ビーム応用研究
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土屋 佳則
物質・材料研究機構
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茂筑 高志
金材技研
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吉川 英樹
独立行政法人物質・材料研究機構
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岩瀬 謙二
茨城大 フロンティア応用原子科学研究セ
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田中 彰博
アルバック・ファイ株式会社
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Sulistyanintyas Dyah
茨城大フロンティア
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小黒 英俊
茨城大フロンティア
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石垣 徹
茨城大iFRC
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星川 晃範
茨城大ifrc
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星川 晃範
高エネ機構 物構研
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岩瀬 謙二
茨城大iFRC
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Sulistyanintyas Dyah
茨城大iFRC
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小黒 英俊
茨城大iFRC
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岩井 秀夫
NIMS
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田中 彰博
物材機構
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吉川 英樹
独立行政法人日本原子力研究開発機構
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松下 能孝
物材機構
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金 永成
名古屋大学大学院環境学研究科
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日比野 高士
名古屋大学大学院環境学研究科
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柳下 明
高エ研
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田中 彰博
アルバック・ファイ(株)
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小林 啓介
物材機構
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井川 直樹
原子力機構
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松下 能孝
NIMS
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勝矢 良雄
物材機構
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吉川 英樹
物材機構はりま
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城戸 義明
立命館大理工
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井川 直樹
Quantum Beam Science Directorate Japan Atomic Energy Agency
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福島 整
物質・材料研究機構物質研究所
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岸田 悟
鳥取大学工学部電気電子工学科
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福島 整
科学技術庁無機材質研究所
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難波 秀利
立命館大理工
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岸田 悟
鳥取大学大学院工学研究科
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岩井 秀夫
アルバック・ファイ株式会社
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小畠 雅明
NIMS
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小林 啓介
独立行政法人物質・材料研究機構
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木下 健太郎
鳥取大学工学研究科電気電子工学専攻
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依田 貴稔
鳥取大学電気電子工学科
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木下 健太郎
鳥取大学電気電子工学科
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柳下 明
高工研放射光
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福島 整
無機材研
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福島 整
独立行政法人物質・材料研究機構 ナノ計測センター先端表面化学分析グループ
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岸田 悟
鳥取大学工学研究科電気電子工学専攻
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西村 智朗
立命館大理工
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岩井 秀夫
アルパック・ファイ株式会社
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田中 彰博
アルパック・ファイ株式会社
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小畠 雅明
独立行政法人物質・材料研究機構
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PIS Igor
National Institute for Materials Science
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眞田 則明
アルバック・ファイ(株)分析室
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岸田 悟
鳥大工
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福島 整
無機材質研究所
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小原 誠
立命館大理工
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川上 大祐
立命館大理工
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岩井 秀夫
立命館大理工
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Y Yan
高工研放射光
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小林 由佳
早大高研
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岸田 悟
鳥取大 大学院工学研究科
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岸田 悟
鳥取大学電子ディスプレイ研究センター
-
依田 貴稔
鳥取大学工学部電気電子工学科
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岩井 秀夫
物質・材料研究機構
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萩原 俊弥
物質・材料研究機構
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福島 整
物質・材料研究機構
-
小林 由佳
物材機構
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日比野 高士
名大院工
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金 永成
名大院工
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岩井 秀夫
物材機構
-
勝矢 良雄
NIMS
-
松下 能孝
防衛大応用物理
-
田中 彰博
アルバック・ファイ (株)
著作論文
- AESおよびXPS装置の発展と展望[含 査読コメント]
- 391 オージェ電子分光の実用的定量化の為の同心円筒鏡分析器の動作評価(表面解析, 表面分析, 元素分析, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 113 回(春季)講演大会)
- ラボ用硬X線光電子分光装置の開発
- マルチプローブ走査型X線光電子分光分析装置「PHI5000 VersaProbe」 (全冊特集 次世代プロセスに対応する半導体製造装置と材料) -- (半導体試験・検査・分析装置)
- 新飛行時間型2次イオン質量分析装置「TRIFT V nano TOF」 (全冊特集 次世代プロセスに対応する半導体製造装置と材料) -- (半導体試験・検査・分析装置)
- X線光電子分光法による材料分析・解析における最新技術 (特集 材料分析・観測技術の勘どころ)
- 6p-H-1 立命館大学放射光複合ビームライン : SORIS I 放射光利用光電子分光
- 超高真空装置の取り扱い (JAIMAコンファレンス「初心者のための実用表面分析講座」(2008年9月3日)講演資料)
- 反射電子エネルギー損失スペクトルにおける因子分析の基礎的扱い (第34回表面分析研究会講演資料)
- データ処理--ファクターアナリシス(因子分析)の使い方 (表面分析研究会 第33回研究会 講演資料)
- 電子分光法による表面分析の動向
- チャージアップを抑える
- 原子間力顕微鏡を用いたReRAMフィラメントの物性解析(不揮発性メモリ,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
- 角度可変反射電子エネルギー損失分光スペクトルの因子分析を用いた解析--3族-5族半導体(GaSb,GaP,GaN)におけるエネルギー損失関数 (表面分析研究会 第36回研究会 講演資料)
- 25pPSB-43 FeSr_2YCu_2O_系における構造的な乱れと物性(25pPSB 領域8ポスターセッション(低温1(鉄砒素系・銅酸化物ほか)),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 22aPS-26 FeSr_2YCu_2O_磁性超伝導体の規則・不規則構造(22aPS 領域8ポスターセッション(低温1(遷移金属酸化物・超伝導など)),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 24pTG-3 TTFCOONH_4塩のプロトン拡散能(24pTG 分子性固体・高圧物性,領域7(分子性固体・有機導体))