眞田 則明 | アルバック・ファイ(株)分析室

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概要

• 同名の論文著者
• アルバック・ファイ(株)分析室の論文著者

関連著者

• 眞田 則明

  アルバック・ファイ(株)分析室

• 田中 彰博

  アルバック・ファイ株式会社

• 田中 彰博

  アルバック・ファイ(株)

• 鈴木 峰晴

  アルバック・ファイ株式会社

• 井上 りさよ

  アルバック・ファイ株式会社

• 田中 彰博

  アルバック・ファイ (株)

• 岩井 秀夫

  独立行政法人物質・材料研究機構

• 小林 力

  アルバック・ファイ(株)技術部

• 小林 力

  アルバック・ファイ株式会社 技術部

• 岩井 秀夫

  立命館大理工:アルバックファイ

• 小林 力

  アルバック・ファイ

• 宮山 卓也

  アルバック・ファイ株式会社

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著作論文

• Arクラスターイオンビームを用いたポリイミド薄膜のXPS深さ方向分析 (2009年度実用表面分析講演会(PSA-09)講演資料)
• 新しい表面分析法
• 講義 電子分光におけるスペクトル強度と幅の理論的解釈
• X線光電子分光法による材料分析・解析における最新技術 (特集 材料分析・観測技術の勘どころ)
• Arガスクラスターを用いた低損傷有機物スパッタリング (表面分析研究会 第35回研究会 講演資料)
• CMAオージェの特徴と有用性 (第34回表面分析研究会講演資料)
• 高分子材料のXPS深さ方向分析におけるC_イオンビーム入射角の影響
• X線光電子分光法(XPS)
• コンビナトリアル手法に適合するX線光電子分光(XPS)装置(PHI Quantera ？) (小特集 コンビナトリアル・ドライプロセス)
• コンビナトリアル手法に適合するX線光電子分光(XPS)装置 (PHI Quantera II)

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