高分子材料のXPS深さ方向分析におけるC_<60>イオンビーム入射角の影響

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概要

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• 日本表面科学会の論文
• 2007-09-10

著者

• 眞田 則明

  アルバック・ファイ(株)分析室

• 宮山 卓也

  アルバック・ファイ株式会社

• 井上 りさよ

  アルバック・ファイ株式会社

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