福島 整 | 独立行政法人物質・材料研究機構 ナノ計測センター先端表面化学分析グループ
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概要
関連著者
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福島 整
独立行政法人物質・材料研究機構 ナノ計測センター先端表面化学分析グループ
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福島 整
無機材質研究所
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福島 整
科学技術庁無機材質研究所
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福島 整
無機材研
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吉川 英樹
物材機構
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吉川 英樹
物材機構はりま
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吉川 英樹
科学技術庁無機材質研究所
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福島 整
物質・材料研究機構
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岸田 悟
鳥取大学工学部電気電子工学科
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岸田 悟
鳥大工
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伊藤 嘉昭
京大化研
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福島 整
物質・材料研究機構物質研究所
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岸田 悟
鳥取大 工
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岸田 悟
鳥取大 大学院工学研究科
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福島 整
独立行政法人物質・材料研究機構物質研究所はりまオフィス
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福島 整
物材機構
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岸田 悟
鳥取大学大学院工学研究科
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田沼 繁夫
独立行政法人物質・材料研究機構 ナノ計測センター先端表面化学分析グループ
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田中 彰博
アルバック・ファイ株式会社
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田沼 繁夫
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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田中 彰博
アルバック・ファイ(株)
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藤井 達生
岡山大学大学院自然科学研究科
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藤井 達夫
岡山大工
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吉川 英樹
物質・材料研究機構 SPring-8
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山下 満
兵工技セ
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藤井 達生
岡山大学自然科学研究科
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岸田 悟
鳥取大学工学研究科電気電子工学専攻
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田沼 繁夫
独立行政法人物質・材料研究機構
-
田沼 繁夫
物質・材料研究機構
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吉川 英樹
物質・材料研究機構
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田中 彰博
アルバック・ファイ (株)
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大橋 浩史
物材機構
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栃尾 達紀
(株)けいはんな
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藤井 達生
岡山大工
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葛原 宏治
鳥取大学工学部電気電子工学科
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松本 浩介
鳥取大学工学部電気電子工学科
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大橋 浩史
京大化研
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田中 博美
鳥取大学
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永島 法
鳥取大学
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岸田 悟
鳥取大学
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吉川 英樹
独立行政法人物質・材料研究機構物質研究所はりまオフィス
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木村 昌弘
独立行政法人物質・材料研究機構物質研究所はりまオフィス
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大橋 浩史
物材機構はりま
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中西 真
岡山大工
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高田 潤
岡山大工
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栢野 真和
岡山大工
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高田 裕輔
岡山大工
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木村 昌弘
物材機構
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Vlaicu M.
物材機構
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重岡 伸之
京大化研
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徳高 平蔵
鳥取大学工学部電気電子工学科
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福島 整
無機材質研究所超微細構造解析ステーション
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Mihai Vlaicu
物材機構
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小椋 満
鳥取大学・工
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木村 隆
独立行政法人物質・材料研究機構
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元山 宗之
兵庫県立工業技術センター
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岸田 悟
鳥取大学大学院 工学研究科
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元山 宗之
兵庫県大
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木村 隆
日本テキサス・インスツルメンツ
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吉川 英樹
独立行政法人物質・材料研究機構
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木村 隆
独立行政法人物質・材料研究機構 ナノ計測センター先端表面化学分析グループ
-
中西 真
岡山大学大学院自然科学研究科
-
中西 真
岡山大学自然科学研究科
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福島 整
無機材質研
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元山 宗之
兵庫県立工業試験場
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高田 裕輔
岡山大・自然科学研究科
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木村 隆
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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福島 整
富士ゼロックス(株)総合研究所分析センター
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徳高 平蔵
鳥取大学工学部
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吉川 英樹
独立行政法人日本原子力研究開発機構
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野中 聡
旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座
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野中 源一郎
九州大学薬学部
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野中 薫雄
琉球大学医学部器官病態医科学講座皮膚科
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石田 芳也
北見赤十字病院耳鼻咽喉科・頭頸部外科
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寺澤 倫孝
兵庫県立大高度研
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荻原 俊弥
独立行政法人物質・材料研究機構分析支援ステーション
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安東 孝止
鳥取大学工学部
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安東 孝止
鳥取大学
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吉井 賢資
原研関西
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木村 隆
物質・材料研究機構
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安井 真也
日大文理
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吉井 資次
日本原子力研究所
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半田 克己
京大化研
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栃尾 達紀
けいはんな(株)
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栃尾 達紀
京大化研
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山下 満
兵庫工技センター
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蔭山 博之
産総研
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米田 安宏
原子力機構・放射光科学研究ユニット
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米田 安宏
原研
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吉井 賢資
原研
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木村 隆土
福島県立医科大学第一外科
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吉門 進三
同志社大学工学部電気工学教室
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八木 信弘
スプリングエイトサービス株式会社
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嘉藤 誠
日本電子株式会社
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境 悠治
日本電子株式会社
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小椋 満
鳥取大学工学部電気電子工学科
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水谷 剛
物質・材料研究機構物質研究所
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吉川 英樹
無機材質研究所超微細構造解析ステーション
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岡本 康昭
島根大学総合理工学部
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上田 智康
リガク
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大澤 登
リガク
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表 和彦
リガク
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庄司 孝
理学電機工業
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吉門 進三
同志社大工
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元山 宗之
兵庫県立大学産学連携センター
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山下 満
兵庫県工技セ
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葛原 宏治
鳥取大学・工
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松本 浩介
鳥取大学・工
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岸田 悟
鳥取大学・工
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渡部 徹
松江工業高等専門学校情報工学科
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木下 健太郎
鳥取大学工学研究科電気電子工学専攻
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依田 貴稔
鳥取大学電気電子工学科
-
木下 健太郎
鳥取大学電気電子工学科
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小林 直樹
NTT基礎研究所
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田澤 豊彦
日本電子株式会社電子光学機器本部
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塚本 一徳
日本電子株式会社電子光学機器本部
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奥井 眞人
SES
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伊藤 嘉昭
京都大学化学研究所
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渡部 徹
鳥取大学工学部電気電子工学科
-
石原 顕永
鳥取大学工学部電気電子工学科
-
河相 宰昭
鳥取大学工学部電気電子工学科
-
二澤 宏司
理研播磨
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伏見 公志
北大院工
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岩井 秀夫
独立行政法人物質・材料研究機構
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岡本 康昭
阪大基礎工
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吉門 進三
同志社大学理工学部
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枝元 一之
東工大理
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岡本 康昭
大阪大学基礎工学部化学工学科
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中村 一隆
金材研
-
中村 一隆
金材技研
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玉田 薫
物質工学工業技術研究所 分子工学部
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玉田 薫
物質研
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岡本 康昭
島根大・総合理工
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元山 宗之
兵庫県立大学 高度産業科学技術研究所
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高橋 琢二
東大先端研
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藤井 達生
岡山大・自然科学研究科
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渡部 徹
松江工高専
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高橋 琢二
東京大学先端科学技術研究センター
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木村 隆
物質・材料研究機構 分析ステーション
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岩井 秀夫
立命館大理工:アルバックファイ
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二澤 宏司
理化学研究所
-
二澤 宏司
理学電機工業
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木村 隆
福島県立医科大学臓器再生外科
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岸田 悟
鳥取大学電子ディスプレイ研究センター
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依田 貴稔
鳥取大学工学部電気電子工学科
-
岩井 秀夫
物質・材料研究機構
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萩原 俊弥
物質・材料研究機構
-
荻原 俊弥
物質・材料研究機構
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栃尾 達紀
神戸大理
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藤井 達生
岡山大
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二澤 宏司
理研
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寺澤 倫孝
兵庫県立大
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荻原 俊弥
独立行政法人物質・材料研究機構
-
田澤 豊彦
日本電子株式会社
-
渡部 徹
鳥取大学工学部
著作論文
- Cu-rich 融液から育成したBi-2212超伝導単結晶の光電子分光
- 数値データの取り扱い--四捨五入から検出限界まで(第1回)データの丸め方と誤差の基礎
- 多元高周波マグネトロンスパッタ法による高品質Bi_2Sr_2CaCu_2O_y超伝導薄膜の作製
- 22aPS-73 光電子分光法による鉄-チタン酸化物の電子状態
- 31pXF-6 エピタキシャル FeTiO_3 薄膜の電子状態
- SPring-8における高エネルギー光電子顕微鏡の開発研究
- Heガスを用いたBi_2Sr_2Ca_Cu_nO_yスパッタ薄膜の組成制御
- 無機材質研究所専用ビームラインと高分解能蛍光X線分析による状態分析
- シンクロトロン放射光を利用した材料解析
- 22pRF-7 高分解能用X線スペクトル分光装置の開発とその評価(原子・分子,領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
- 27pXN-12 Ti Kβ X線輻射スペクトルにおける化学結合効果(原子・分子)(領域1)
- 超軟X線分光におけるLi Kα強度への化学状態の影響
- 電子線励起超軟X線分光分析装置の開発
- プロジェクト報告 スペクトル強度分散評価ラウンドロビンテスト(第1報) (2009年度実用表面分析講演会(PSA-09)講演資料)
- 高分解能蛍光X線分光法を用いた浅間火山岩中のFeの化学状態分析
- 希ガスイオン照射したC60のX線分光解析
- 高エネルギー放射光による内殻準位変化の観測
- ニューラルネットワークの化学分析への適用
- プロジェクト報告 スペクトル強度分散評価ラウンドロビンテスト(第2報)装置特性のパラメータ化 (第34回表面分析研究会講演資料)
- 先端追跡
- 先端追跡
- 先端追跡
- 数値データの取り扱い--四捨五入から検出限界まで(第2回)平均値,区間推定と棄却検定
- 放射光を用いた低温高圧下での構造変化に関する研究 (特別企画 原子力基盤クロスオ-バ-研究の現状と今後の展開-7 最終回-放射線ビ-ム利用先端計測・分析技術分野について 7-2 高輝度放射光の先端利用のための基盤技術の研究開発)
- 表面分析が産業界に果たした役割 (特集 表面科学はいかに産業界に寄与してきたか)
- スペクトル強度分散評価--XPSでのRRTの最終報告、およびAESでの予備検討の現状 (表面分析研究会 第36回研究会 講演資料)
- 分析におけるソフトウェアII デ-タ処理の基礎知識:フ-リエ変換
- X線分析
- 東京理科大学理学部古谷研究室を訪ねて
- 多元高周波マグネトロンスパッタ法によるBi_2Sr_2Ca_Cu_nO_y超伝導薄膜の作製
- 坩堝回転機構付垂直ブリッジマン法で育成したBi_2Sr_2CaCu_2O_y超伝導単結晶の光電子分光
- 原子間力顕微鏡を用いたReRAMフィラメントの物性解析(不揮発性メモリ,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
- 表面分析が産業界に果たした役割
- 掲示板 ノイズの振る舞いの定量的表現(プロジェクト化の検討)
- データ処理に必要な関数の基礎 (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- 23aJA-4 X線発光分光法を用いた吸収端評価(23aJA X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- VAMAS-電子ビーム損傷ラウンドロビン試験報告 : 最終報告に向けての検討 (第38回表面分析研究会講演資料)
- 物質・材料研究機構中核機能部門における計測・分析・解析技術 (特集 ナノテク開発を支える計測・分析・解析技術) -- (共用施設の実績と課題)