集束イオンビームによる断面TEM試料作製
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概要
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- 日本電子顕微鏡学会の論文
- 1997-03-31
著者
-
坂 公恭
名古屋大学工学部
-
高井 義造
大阪大学大学院工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大学大学院工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大学工学部量子工学
-
志水 隆一
大工大
-
志水 隆一
大阪大学大学院工学研究科
-
志水 隆一
大阪工業大学
-
坂 公恭
名古屋大学工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大 大学院工学研究科
-
Takai Yoshiaki
Nagoya University
-
志水 隆一
Osaka Inst. Technol. Osaka Jpn
-
志水 隆一
大阪工業大学情報科学部情報科学科
-
多留谷 政良
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
-
坂 公恭
名古屋大学
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