超解像位相差電子顕微鏡とは
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 1999-09-20
著者
-
高井 義造
大阪大学大学院工学研究科
-
志水 隆一
大工大
-
志水 隆一
大阪大学大学院工学研究科
-
高井 義造
大阪大学大学院工学研究科 生命先端工学専攻
-
木村 吉秀
大阪大学大学院工学研究科
-
木村 吉秀
阪大院・工
-
木村 吉秀
大阪大 大学院工学研究科
関連論文
- 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 : -先端顕微鏡法開発がもたらす材料科学の新たな展開-企画にあたって
- 超解像位相差電子顕微鏡とは
- 28p-XJ-7 超解像位相差電子顕微鏡の開発
- 集束イオンビームを用いた電子光学系輪帯瞳用アパーチャの作製
- 次世代超電子顕微鏡の開発
- 実時間焦点位置変調法による位相再構成と分解能向上
- 3次元フーリエフィルタリング法による位相再構成
- 28aWP-11 球面収差除去した高分解能光電子顕微鏡の開発(表面界面構造(半導体))(領域9)
- 29aZF-12 3 次元フーリエフィルタリング法を用いた微粒子結晶界面の無収差電子顕微鏡観察
- 能動型画像処理に与える非線型結像成分の影響
- 結晶格子像の3次元フーリエ解析
- 実時間演算機能を有するCCDカメラの開発
- 担持金超微粒子触媒の透過電子顕微鏡観察
- 1枚の観察像からのコマ収差測定・除去法 -電子顕微鏡への応用-
- プラズマディスプレイパネル用MgO薄膜における新しい二次電子放出量の評価方法
- 電界放出型電子銃を用いたカソードルミネッセンス走査型電子顕微鏡の開発
- 国際シンポジウム(ALC'03)に参加して
- 熱電界放射陰極(Zr-O/W (100))にみる高温表面物性の新たな展開
- Separation of linear and non-linear imaging components in high-resolution transmission electron microscope images
- Development of Monte Carlo Simulation of Generation of Continuous and Characteristic X-Rays by Electron Impact (Short Note)
- Fourier analysis of HRTEM image deterioration caused by mechanical vibration
- Real-time observation of spherical aberration-free phase image using high-speed image processing CCD video camera
- Flattening of Surface by Sputter-Etching with Low-Energy Ions : Instrumentation, Measurement, and Fabrication Technology
- Monte Carlo Simulation Study of Backscattered Electron Imaging in a Chemical Vapor Deposition Scanning Electron Microscope
- Floating-type Compact Low-energy Ion Gun - Basic Performance for High-resolution Depth Profiling -
- Monte Carlo Simulation of Generations of Continuous and Characteristic X-Rays by Electron Impact
- Development of a real-time defocus-image modulation processing electron microscope. II. Dynamic observation of spherical aberration-free phase image of surface atoms
- Development of a real-time defocus image modulation processing electron microscope. I. Construction
- 単結晶LiTaO_3における分極反転ドメインの断面透過電子顕微鏡観察
- Preliminary experiments for development of real-time defocus-image modulation processing electron microscope
- Observation of Al surface during sputter-cleaning and annealing procedures under UHV-REM
- 未来開拓学術研究推進事業プロジェクト「次世代超電子顕微鏡の開発」 -実時間球面収差補正位相像観察-
- 未来開拓学術研究推進事業プロジェクト「次世代超電子顕微鏡の開発」 -能動型焦点位置変調電子顕微鏡の開発-
- 未来開拓学術研究推進事業プロジェクト「次世代超電子顕微鏡の開発」 -研究計画と進展状況について-
- 3次元フーリエ・フィルタリング法による金微粒子の球面収差補正位相像
- γ型エネルギーフィルタを用いたコインシデンス電子顕微鏡の開発
- 実時間球面収差補正 (新手法--21世紀に向けて)
- 集束イオンビームによる断面TEM試料作製
- ダイヤモンドをよく知るために--評価法(16):透過型電子顕微鏡(2)試料作製法
- ダイヤモンドをよく知るために--評価法(16)透過型電子顕微鏡(1)概論
- 集束イオンビームでTEM用試料を作製したら
- 加工されたMn-Zn単結晶フェライトの磁気特性 (第3報) : テープラッピングによる磁区構造の変化
- 走査型電子顕微鏡による磁区観察法 : Mn-Zn 単結晶フェライト加工変質層の研究への適用
- 焦点位置変調電子顕微鏡法による収差補正技術の開発とその応用
- 19pXC-3 焦点位置変調法を用いた波動場再構成技術の現状と今後の可能性(シンポジウム 最新電子顕微鏡法を使った物性研究のいぶき,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 高分解能電子顕微鏡用演算機能内蔵型CCDカメラ (特集 新産業創出と独創的研究)
- 2a-E-1 コンピュータによる微小制限視野回析法の格子欠陥解析への応用
- 自己修復機能をもつエミッタ-
- X線微小分析装置 X線マイクロアナライザー(EPMA)
- 産学協力について-瀬藤委員会に思う-
- How I Got an Idea of Electron Beam Interference and Developed It〔邦文〕
- 電子散乱励起過程の電算機シミュレ-ションによる研究
- Continuum X-Ray Generation from W Film on Cu Substrate
- コインシデンス分光法の新しい展開 - 分光法から分光顕微鏡法へ -
- プラズマディスプレイパネル用MgO薄膜における新しい二次電子放出量の評価方法
- Development of coincidence transmission electron microscope (II) Observation of coincidence electron microscopic image
- Development of a Nanoprobe Cathodoluminescence Scanning Electron Microscope
- Development of Coincidence Transmission Electron Microscope (I) Coincidence Image Construction System
- 透過型無収差位相差電子顕微鏡
- A14 新しい照射電子量低減機能を備えたTEMにより明らかにされたhalloysite中の積層構造(口頭発表,一般講演)
- 高分解能電子顕微鏡の進展と今後
- Polygonal halloysite の構造
- CCDの原理と透過型電子顕微鏡への応用