実時間焦点位置変調法による位相再構成と分解能向上
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2005-02-24
著者
-
川崎 忠寛
名大院工
-
生田 孝
大阪電通大
-
高井 義造
大阪大学大学院工学研究科
-
川崎 忠寛
大阪大学大学院工学研究科生命先端工学専攻物質生命工学コース
-
高井 義造
大阪大学大学院工学研究科 生命先端工学専攻
-
生田 孝
大阪歯科大学 口腔解剖
-
木村 吉秀
大阪大学大学院工学研究科
-
生田 孝
大阪電気通信大学
-
木村 吉秀
阪大院・工
-
木村 吉秀
大阪大 大学院工学研究科
関連論文
- 21aHS-6 収差補正STEMにおける輪帯絞りを用いたプローブ形成 : シミュレーション解析(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 : -先端顕微鏡法開発がもたらす材料科学の新たな展開-企画にあたって
- 超解像位相差電子顕微鏡とは
- 28p-XJ-7 超解像位相差電子顕微鏡の開発
- 集束イオンビームを用いた電子光学系輪帯瞳用アパーチャの作製
- 25pTE-1 金ナノ触媒の反応中構造変化のTEMその場観察(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 結像光学系における能動型画像処理-2-
- 結像光学系における能動型画像処理-1-
- 次世代超電子顕微鏡の開発
- 結像光学系の3次元結像特性
- 実時間焦点位置変調法による位相再構成と分解能向上
- 3次元フーリエフィルタリング法による位相再構成
- 28aWP-11 球面収差除去した高分解能光電子顕微鏡の開発(表面界面構造(半導体))(領域9)
- 29aZF-12 3 次元フーリエフィルタリング法を用いた微粒子結晶界面の無収差電子顕微鏡観察
- 無収差位相差顕微鏡法に関する新しい理論
- 基準軸整合3-Dデータを用いた上顎切歯唇側面観の形状解析
- 能動型画像処理に与える非線型結像成分の影響
- 結晶格子像の3次元フーリエ解析
- 実時間演算機能を有するCCDカメラの開発
- 基準軸整合3-Dデータによる上顎切歯の形状解析
- 担持金超微粒子触媒の透過電子顕微鏡観察
- 1枚の観察像からのコマ収差測定・除去法 -電子顕微鏡への応用-
- 未来開拓学術研究推進事業プロジェクト「次世代超電子顕微鏡の開発」 -能動型画像処理方式に基づく実時間球面収差補正手法の原理-
- 29a-ZC-7 3次元フィルタリング処理による無収差位相像の再構成
- 29a-SZC-6 透過型電顕における能動型画像処理(XII)焦点位置変調法による無染色べん毛の観察
- 29a-SZC-5 ホローコーン照明と焦点位置変調法による高分解能無収差結像
- プラズマディスプレイパネル用MgO薄膜における新しい二次電子放出量の評価方法
- 電界放出型電子銃を用いたカソードルミネッセンス走査型電子顕微鏡の開発
- 国際シンポジウム(ALC'03)に参加して
- Separation of linear and non-linear imaging components in high-resolution transmission electron microscope images
- Development of Monte Carlo Simulation of Generation of Continuous and Characteristic X-Rays by Electron Impact (Short Note)
- Fourier analysis of HRTEM image deterioration caused by mechanical vibration
- Nano-area electron diffraction pattern reconstructed from three-dimensional Fourier spectrum
- Real-time observation of spherical aberration-free phase image using high-speed image processing CCD video camera
- Flattening of Surface by Sputter-Etching with Low-Energy Ions : Instrumentation, Measurement, and Fabrication Technology
- Monte Carlo Simulation Study of Backscattered Electron Imaging in a Chemical Vapor Deposition Scanning Electron Microscope
- Floating-type Compact Low-energy Ion Gun - Basic Performance for High-resolution Depth Profiling -
- Monte Carlo Simulation of Generations of Continuous and Characteristic X-Rays by Electron Impact
- Optimization of voltage axis alignment in high-resolution electron microscopy
- Development of a real-time defocus-image modulation processing electron microscope. II. Dynamic observation of spherical aberration-free phase image of surface atoms
- Development of a real-time defocus image modulation processing electron microscope. I. Construction
- Preliminary experiments for development of real-time defocus-image modulation processing electron microscope
- Observation of Al surface during sputter-cleaning and annealing procedures under UHV-REM
- 未来開拓学術研究推進事業プロジェクト「次世代超電子顕微鏡の開発」 -実時間球面収差補正位相像観察-
- 未来開拓学術研究推進事業プロジェクト「次世代超電子顕微鏡の開発」 -能動型焦点位置変調電子顕微鏡の開発-
- 3次元フーリエ・フィルタリング法による金微粒子の球面収差補正位相像
- 実時間球面収差補正 (新手法--21世紀に向けて)
- 集束イオンビームによる断面TEM試料作製
- 加工されたMn-Zn単結晶フェライトの磁気特性 (第3報) : テープラッピングによる磁区構造の変化
- 焦点位置変調電子顕微鏡法による収差補正技術の開発とその応用
- 19pXC-3 焦点位置変調法を用いた波動場再構成技術の現状と今後の可能性(シンポジウム 最新電子顕微鏡法を使った物性研究のいぶき,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 高分解能電子顕微鏡用演算機能内蔵型CCDカメラ (特集 新産業創出と独創的研究)
- 2a-E-1 コンピュータによる微小制限視野回析法の格子欠陥解析への応用
- Extraction of Spherical and Chromatic Aberration -free Information by Focal-depth Extension Processing Under Tilted Illumination
- Beta-Decay Energies of ^,^,^Ba and ^,^Cs
- Beta Decay of ^Nd and Reflection Asymmetric Deformation in ^Pm
- Beta Decay of ^Pr into Levels in ^Nd
- Q_β Measurements of Neutron-Rich Isotopes in the Mass Region 147 ≤A≤152
- Continuum X-Ray Generation from W Film on Cu Substrate
- コインシデンス分光法の新しい展開 - 分光法から分光顕微鏡法へ -
- Effective Resolution of Phase-contrast Images in X-ray Microscopy
- New Computer Simulation Software of Electron Trajectories for Evaluation of Magnetic Field Immersion-Type Field Emission Gun
- プラズマディスプレイパネル用MgO薄膜における新しい二次電子放出量の評価方法
- Assessment of Image Formation by Three-Dimensional Power Spectrum in Transmission Electron Microscopy
- 能動型画像処理方式
- 3a-B-10 TaS_2の超格子構造とその異常の電子顕微鏡による観察
- Development of coincidence transmission electron microscope (II) Observation of coincidence electron microscopic image
- Development of a Nanoprobe Cathodoluminescence Scanning Electron Microscope
- Development of Coincidence Transmission Electron Microscope (I) Coincidence Image Construction System
- 透過型無収差位相差電子顕微鏡
- A14 新しい照射電子量低減機能を備えたTEMにより明らかにされたhalloysite中の積層構造(口頭発表,一般講演)
- アブストラクト
- 高分解能電子顕微鏡の進展と今後
- Polygonal halloysite の構造
- CCDの原理と透過型電子顕微鏡への応用
- 能動的画像処理を用いた生体組織細胞の位相差光学顕微鏡観察