坂 公恭 | 名古屋大学工学部量子工学
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
坂 公恭
名古屋大学工学部量子工学
-
坂 公恭
名古屋大学
-
坂 公恭
名古屋大学工学部
-
坂 公恭
名古屋大学大学院工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大 大学院工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大
-
坂 公恭
名大・大学院
-
坂 公恭
名古屋大学工学研究科
-
黒田 光太郎
名古屋大学工学部
-
黒田 光太郎
名古屋大学大学院工学研究科
-
佐々木 勝寛
名古屋大学工学部
-
荒井 重勇
名古屋大学100万ボルト電子顕微鏡研究室
-
黒田 光太郎
名大工
-
荒井 重勇
名古屋大学
-
佐々木 勝寛
名古屋大学大学院工学研究科・量子工学専攻
-
黒田 光太郎
名城大学学長室
-
佐々木 厳
豊田中央研究所
-
右京 良雄
豊田中央研究所
-
佐々木 厳
豊田中研
-
荒井 重勇
名古屋大学エコトピア科学研究所
-
加藤 直子
株式会社アイテス品質技術部
-
王 洲光
財団法人ファインセラミックスセンター
-
武藤 俊介
名古屋大学大学院工学研究科
-
井村 徹
愛知工業大学機械工学科
-
高木 誠
愛知工業大学工学部機械学科
-
高木 誠
愛知工大
-
武藤 俊介
大阪大学教養部
-
加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
-
加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所
-
井村 徹
愛知工業大学 工学部 機械学科
-
加藤 直子
(株)アイテス 技術事業部 品質技術部
-
高木 誠
愛知工業大学
-
加藤 直子
株式会社アイテス
-
Imura T
Department Of Mechanical Engineering Aichi Institute Of Technology
-
武藤 俊介
名古屋大学
-
岩田 博之
愛工大
-
右京 良雄
(株)豊田中央研究所触媒研究室
-
加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンター
-
岩田 博之
愛知工業大学工学部電子工学科
-
坂 公恭
名大
-
平山 司
財団法人ファインセラミックスセンター
-
上野 武夫
株式会社日立ハイテクノロジーズ
-
木下 圭介
トヨタ自動車株式会社第2材料技術部
-
岩田 博之
愛知工業大学
-
有馬 則和
愛知工業大学大学院工学研究科
-
室賀 啓
愛知製鋼(株)開発企画部
-
有馬 則和
名大院
-
奥野 智子
名大
-
鈴木 敏之
名大
-
吉川 佳子
名大
-
右京 良雄
(株)豊田中央研究所
-
木下 圭介
トヨタ自動車株式会社 材料技術統括部 材料解析室
-
野中 誠
昭和大学藤が丘病院呼吸器外科
-
野中 倫明
東京都立大塚病院 外科
-
藤田 芳和
名古屋大学医学部教育研究機器センター
-
平山 司
ファインセラミックスセンター
-
須田 明彦
(株)豊田中央研究所
-
佐々木 厳
(株)豊田中央研究所触媒研究室
-
杉浦 正洽
(株)豊田中央研究所触媒研究室
-
村井 盾哉
名古屋大学 大学院工学研究科量子工学専攻
-
佐々木 厳
株式会社豊田中央研究所
-
右京 良雄
株式会社豊田中央研究所
-
佐々木 巌
(株)豊田中央研究所
-
平山 司
(財)ファインセラミックスセンター材料技術研究所研究第一部
-
田中 信夫
名古屋大学
-
竹本 一八男
株式会社日立製作所 中央研究所
-
竹本 一八男
株式会社日立製作所中央研究所
-
杉浦 正洽
株式会社豊田中央研究所
-
小林 身哉
名古屋大学・医・解剖2
-
平山 司
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
-
須田 明彦
豊田中研
-
杉浦 正洽
豊田中研
-
高井 義造
大阪大学大学院工学研究科
-
上野 武夫
(株)日立サイエンスシステムズ
-
志水 隆一
大工大
-
志水 隆一
大阪大学大学院工学研究科
-
志水 隆一
大阪工業大学
-
藪内 康文
松下テクノリサーチ
-
加藤 丈晴
財団法人ファインセラミックスセンター
-
尾坂 知江子
名古屋市科学館
-
平山 司
(財)ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
-
Takai Yoshiaki
Nagoya University
-
辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社APTO品質
-
戸所 秀男
株式会社日立製作所中央研究所
-
王 洲光
(財)ファインセラミックスセンター
-
洪 文熹
Case-Western Reserve University, Cleveland, USA
-
芦川 幹雄
株式会社日立製作所中央研究所
-
上野 武夫
日立ハイテクノロジーズ株式会社
-
辻本 勝浩
九州大学超高圧電子顕微鏡室
-
志水 隆一
Osaka Inst. Technol. Osaka Jpn
-
志水 隆一
大阪工業大学情報科学部情報科学科
-
多留谷 政良
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
-
松澤 寿一
株式会社アイテス
-
河野 好映
野洲セミコンダクター株式会社
-
丸山 秀夫
(株)アイテス半導体故障解析
-
田中 健治
放送大学
-
辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所
-
小野寺 健司
愛知工業大学 大学院工学研究科
-
王 洲光
ジャパンファインセラミックスセンター
-
平山 司
ジャパンファインセラミックスセンター
-
岩田 博之
愛知工業代が右総合技術研究所
-
杉浦 正治
(株)豊田中央研究所
-
芦川 幹雄
株式会社日立製作所 茂原工場
-
芦川 幹雄
(株)日立製作所茂原工場
-
室賀 啓
愛知鉄鋼(株)
-
藪内 康文
株式会社松下テクノリサーチ
-
安部 俊輔
名古屋大学大学院
-
辻 智
日本アイ・ビー・エム(株)
-
洪 文熹
Case-western Reserve University Cleveland Usa
著作論文
- 自動車排気ガス浄化用助触媒における酸素吸放出過程のその場観察
- 自動車排ガス浄化用助触媒β-Ce_2Zr_2O_の高分解能像と電子損失エネルギー分光スペクトル
- 酸素欠損を含んだ自動車排ガス浄化用助触媒(β-Ce_2Zr_2O_)の高分解能像
- Ce_2Zr_2O_7とβ-Ce_2Zr_2O_の結晶構造
- 電子エネルギー損失分光法によるセリア-ジルコニア固溶体の規則相の解析
- セリア-ジルコニア固溶体の酸素吸収挙動と酸素欠陥
- Ce_2Zr_2O_における酸素の吸収挙動とCe_2Zr_2O_相の生成
- 環境TEM周辺技術の開発と応用
- 電子線ホログラフィーによる電界効果トランジスタ内二次元電位分布解析
- 22pXB-7 電子線ホログラフィによるシリコン p-n 接合電位分布計測の物理的意味
- 透過型電子顕微鏡による溶融亜鉛めっき鋼板の断面観察
- Siダイオードアレイターゲットによる高エネルギー電子線撮像
- 透過型電子顕微鏡を用いたガス雰囲気下高温その場観察
- 影像歪法による試料中の電場・磁場の観察
- 液晶ディスプレイの故障解析へのFIB/TEMの応用
- 集束イオンビームによる断面TEM試料作製
- 電子線ホログラフィーによる相補型 MOS(Complementary MOS) デバイス断面のドーパント分布解析
- シリコンデバイスにおける微少リークパスの FIB/TEM による解析
- くさび形研磨とウェットエッチングによるシリサイド薄膜試料製作
- 電子顕微鏡写真展「ミクロの世界」および電子顕微鏡教室を開催して
- SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察
- 電子線ホログラフィーによる p-n 接合の観察
- シリコン単結晶のマイクロ磨耗
- シリコン単結晶のマイクロ摩耗特性と摩耗組織
- 透過型電子顕微鏡による材料の組織およびプロセス評価における最近の進歩
- 合金化溶融亜鉛めっき鋼板における合金相の形成機構
- 材料工学における科研費申請
- 透過型電子顕微鏡による表面・界面の解析
- 転動疲労により生成した白色異常組織
- 転動疲労を受けた鋼中の亀裂近傍における微細組織
- 私が教科書を書いた理由
- 結晶中の格子欠陥のTEMによる解析
- 亀裂および亀裂周辺の欠陥構造の電顕平面観察
- T0302-2-5 Si単結晶中の転位の透過型電子顕微鏡による解析([T0302-2]高信頼マイクロ・ナノデバイスのための設計・計測技術(2):応力・ひずみ計測)
- MNM-3A-6 透過型電子顕微鏡によるSi単結晶の転位の観察(セッション 3A 単結晶・多結晶シリコンの疲労寿命評価とメカニズムの解明)