佐々木 勝寛 | 名古屋大学工学部
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
佐々木 勝寛
名古屋大学工学部
-
佐々木 勝寛
名古屋大学大学院工学研究科・量子工学専攻
-
坂 公恭
名古屋大学工学部
-
坂 公恭
名古屋大学
-
坂 公恭
名大・大学院
-
坂 公恭
名古屋大
-
黒田 光太郎
名古屋大学工学部
-
黒田 光太郎
名古屋大学大学院工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大学工学部量子工学
-
加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
-
加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所
-
王 洲光
財団法人ファインセラミックスセンター
-
加藤 丈晴
名古屋大学大学院
-
加藤 直子
株式会社アイテス品質技術部
-
坂 公恭
名古屋大学大学院工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大 大学院工学研究科
-
荒井 重勇
名古屋大学100万ボルト電子顕微鏡研究室
-
井村 徹
愛知工業大学機械工学科
-
黒田 光太郎
名大工
-
高木 誠
愛知工業大学工学部機械学科
-
荒井 重勇
名古屋大学
-
平山 司
財団法人ファインセラミックスセンター
-
高木 誠
愛知工大
-
黒田 光太郎
名城大学学長室
-
井村 徹
愛知工業大学 工学部 機械学科
-
加藤 直子
(株)アイテス 技術事業部 品質技術部
-
洪 文憙
名古屋大学工学研究科
-
洪 文憙
名大(院)
-
高木 誠
愛知工業大学
-
Imura T
Department Of Mechanical Engineering Aichi Institute Of Technology
-
岩田 博之
愛工大
-
荒井 重勇
名古屋大学エコトピア科学研究所
-
布目 健二
名古屋大学大学院
-
岩田 博之
愛知工業大学工学部電子工学科
-
布目 健二
名大, 工
-
布目 健二
名大 工
-
岩田 博之
愛知工業大学
-
有馬 則和
愛知工業大学大学院工学研究科
-
有馬 則和
名大院
-
足立 吉隆
住友金属工業(株)総合技術研究所
-
足立 吉隆
住友金属工業総合技研
-
平山 司
ファインセラミックスセンター
-
平山 司
(財)ファインセラミックスセンター材料技術研究所研究第一部
-
加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンター
-
平山 司
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
-
今野 充
日立サイエンスシステムズ
-
上野 武夫
日立サイエンスシステムズ
-
上野 武夫
(株)日立サイエンスシステムズ
-
上野 武夫
山梨大学 燃料電池ナノ材料研究センター
-
木下 圭介
トヨタ自動車株式会社第2材料技術部
-
瀬戸 英人
名古屋大学大学院
-
竹内 宏典
名古屋大学大学院
-
木下 圭介
名古屋大学大学院
-
藪内 康文
松下テクノリサーチ
-
着本 享
京都大学大学院工学研究科
-
加藤 丈晴
財団法人ファインセラミックスセンター
-
平山 司
(財)ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
-
王 洲光
(財)ファインセラミックスセンター
-
虎沢 直樹
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
-
高瀬 喜久
松下電子部品株式会社開発技術センター
-
着本 亨
名古屋大学大学院
-
着本 亨
名大・工
-
王 洲光
財団法人 ファインセラミックスセンター材料技術研究所
-
平山 司
財団法人 ファインセラミックスセンター材料技術研究所
-
加藤 直子
株式会社 アイテス半導体故障解析部
-
浦田 研哉
(株)イメージセンス
-
小野寺 健司
愛知工業大学 大学院工学研究科
-
王 洲光
ジャパンファインセラミックスセンター
-
平山 司
ジャパンファインセラミックスセンター
-
岩田 博之
愛知工業代が右総合技術研究所
-
着本 享
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
-
着本 享
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
-
加藤 直子
株式会社アイテス
-
上野 武夫
日立サイエンスシステム テクノリサーチラボ
-
藪内 康文
株式会社松下テクノリサーチ
-
高瀬 喜久
松下電子部品
-
今野 充
(株)日立ハイテクノロジーズ科学・医用システム事業統括本部
-
今野 充
日立ハイテクノロジーズ
-
上野 武夫
日立サイエンスシステム
著作論文
- 0.2%Al-Znめっき鋼板の合金化処理によるめっき構造の変化
- NiO-Ni系における還元・酸化反応の透過電子顕微鏡その場観察
- 電子線ホログラフィーによる電界効果トランジスタ内二次元電位分布解析
- 22pXB-7 電子線ホログラフィによるシリコン p-n 接合電位分布計測の物理的意味
- FIB装置による溶融亜鉛めっき鋼板のTEM観察
- Fe-Zn系金属間化合物δ_とδ_相の機械的性質と微細組織
- Fe-Zn系金属間化合物Γ相の転位組織と規則度の変化
- Fe-Zn系金属間化合物ΓとΓ_1相の育成と機械的な性質
- 半導体デバイスにおけるSn-Ag-CuおよびSn-Ag-Cu-Biはんだと無電解Ni-Pとの接合界面のTEM観察
- 透過電子顕微鏡による融解・凝固のその場観察
- 影像歪法による電場のその場観察
- 影像歪法による試料中の電場・磁場の観察
- 電子線ホログラフィーによる相補型 MOS(Complementary MOS) デバイス断面のドーパント分布解析
- 電子線ホログラフィーと集束イオンビームを用いた電界効果トランジスタ(MOSFET)断面の2次元電位分布解析
- 18pTH-6 電子線ホログラフィによるMOSFET断面の電位分布解析
- SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察
- 電子線ホログラフィーによる p-n 接合の観察
- シリコン単結晶のマイクロ磨耗
- シリコン単結晶のマイクロ摩耗特性と摩耗組織
- プラズモンロス像を用いた高温における動的元素マッピング