坂 公恭 | 名古屋大
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概要
関連著者
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坂 公恭
名古屋大
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坂 公恭
名大・大学院
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坂 公恭
名古屋大学
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坂 公恭
名古屋大学工学部
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坂 公恭
名古屋大学工学部量子工学
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坂 公恭
名古屋大学大学院工学研究科
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坂 公恭
名古屋大 大学院工学研究科
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黒田 光太郎
名古屋大学工学部
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黒田 光太郎
名古屋大学大学院工学研究科
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佐々木 勝寛
名古屋大学工学部
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佐々木 勝寛
名古屋大学大学院工学研究科・量子工学専攻
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荒井 重勇
名古屋大学100万ボルト電子顕微鏡研究室
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黒田 光太郎
名大工
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荒井 重勇
名古屋大学
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黒田 光太郎
名城大学学長室
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佐々木 厳
豊田中央研究所
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右京 良雄
豊田中央研究所
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佐々木 厳
豊田中研
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荒井 重勇
名古屋大学エコトピア科学研究所
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王 洲光
財団法人ファインセラミックスセンター
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加藤 直子
株式会社アイテス品質技術部
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武藤 俊介
名古屋大学大学院工学研究科
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井村 徹
愛知工業大学機械工学科
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高木 誠
愛知工業大学工学部機械学科
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高木 誠
愛知工大
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武藤 俊介
大阪大学教養部
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井村 徹
愛知工業大学 工学部 機械学科
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高木 誠
愛知工業大学
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Imura T
Department Of Mechanical Engineering Aichi Institute Of Technology
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武藤 俊介
名古屋大学
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岩田 博之
愛工大
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右京 良雄
(株)豊田中央研究所触媒研究室
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岩田 博之
愛知工業大学工学部電子工学科
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坂 公恭
名大
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平山 司
財団法人ファインセラミックスセンター
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上野 武夫
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
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加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所
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木下 圭介
トヨタ自動車株式会社第2材料技術部
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坂 公恭
名古屋大学工学研究科
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加藤 直子
(株)アイテス 技術事業部 品質技術部
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辻本 勝浩
九州大学超高圧電子顕微鏡室
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岩田 博之
愛知工業大学
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辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所
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有馬 則和
愛知工業大学大学院工学研究科
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有馬 則和
名大院
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辻 智
日本アイ・ビー・エム(株)
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奥野 智子
名大
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鈴木 敏之
名大
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吉川 佳子
名大
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右京 良雄
(株)豊田中央研究所
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木下 圭介
トヨタ自動車株式会社 材料技術統括部 材料解析室
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野中 誠
昭和大学藤が丘病院呼吸器外科
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野中 倫明
東京都立大塚病院 外科
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砥綿 真一
豊田中研
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平山 司
ファインセラミックスセンター
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須田 明彦
(株)豊田中央研究所
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佐々木 厳
(株)豊田中央研究所触媒研究室
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杉浦 正洽
(株)豊田中央研究所触媒研究室
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村井 盾哉
名古屋大学 大学院工学研究科量子工学専攻
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佐々木 厳
株式会社豊田中央研究所
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右京 良雄
株式会社豊田中央研究所
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佐々木 巌
(株)豊田中央研究所
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平山 司
(財)ファインセラミックスセンター材料技術研究所研究第一部
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加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンター
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山川 俊輔
豊田中研
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杉浦 正洽
株式会社豊田中央研究所
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平山 司
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
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須田 明彦
豊田中研
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杉浦 正洽
豊田中研
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上野 武夫
(株)日立サイエンスシステムズ
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砥綿 真一
株式会社豊田中央研究所
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山川 俊輔
株式会社豊田中央研究所
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齋藤 克史
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
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森下 真也
株式会社豊田中央研究所
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日比野 繁徳
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
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藪内 康文
松下テクノリサーチ
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加藤 丈晴
財団法人ファインセラミックスセンター
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平山 司
(財)ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
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辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社APTO品質
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辻 智
インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術
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王 洲光
(財)ファインセラミックスセンター
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上野 武夫
日立ハイテクノロジーズ株式会社
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王 洲光
財団法人 ファインセラミックスセンター材料技術研究所
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平山 司
財団法人 ファインセラミックスセンター材料技術研究所
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加藤 直子
株式会社 アイテス半導体故障解析部
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小野寺 健司
愛知工業大学 大学院工学研究科
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王 洲光
ジャパンファインセラミックスセンター
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平山 司
ジャパンファインセラミックスセンター
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岩田 博之
愛知工業代が右総合技術研究所
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杉浦 正治
(株)豊田中央研究所
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加藤 直子
株式会社アイテス
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藪内 康文
株式会社松下テクノリサーチ
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辻本 勝浩
日本アイ・ビー・エム(株)
著作論文
- 自動車排気ガス浄化用助触媒における酸素吸放出過程のその場観察
- 自動車排ガス浄化用助触媒β-Ce_2Zr_2O_の高分解能像と電子損失エネルギー分光スペクトル
- 酸素欠損を含んだ自動車排ガス浄化用助触媒(β-Ce_2Zr_2O_)の高分解能像
- Ce_2Zr_2O_7とβ-Ce_2Zr_2O_の結晶構造
- 電子エネルギー損失分光法によるセリア-ジルコニア固溶体の規則相の解析
- セリア-ジルコニア固溶体の酸素吸収挙動と酸素欠陥
- Ce_2Zr_2O_における酸素の吸収挙動とCe_2Zr_2O_相の生成
- 水蒸気による希土類系水素吸蔵合金の表面酸化
- 環境TEM周辺技術の開発と応用
- 名古屋大学超高圧電子顕微鏡グループのイノベーション事業の成果
- 電子線ホログラフィーによる電界効果トランジスタ内二次元電位分布解析
- 22pXB-7 電子線ホログラフィによるシリコン p-n 接合電位分布計測の物理的意味
- 透過型電子顕微鏡を用いたガス雰囲気下高温その場観察
- 影像歪法による試料中の電場・磁場の観察
- 液晶ディスプレイの故障解析へのFIB/TEMの応用
- 電子線ホログラフィーによる相補型 MOS(Complementary MOS) デバイス断面のドーパント分布解析
- 電子線ホログラフィーと集束イオンビームを用いた電界効果トランジスタ(MOSFET)断面の2次元電位分布解析
- SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察
- 電子線ホログラフィーによる p-n 接合の観察
- シリコン単結晶のマイクロ磨耗
- シリコン単結晶のマイクロ摩耗特性と摩耗組織
- 透過型電子顕微鏡による材料の組織およびプロセス評価における最近の進歩
- 透過型電子顕微鏡による表面・界面の解析
- 透過型電子顕微鏡による材料評価
- 液晶ディスプレイの製造工程におけるFIB/TEMの活用
- T0302-2-5 Si単結晶中の転位の透過型電子顕微鏡による解析([T0302-2]高信頼マイクロ・ナノデバイスのための設計・計測技術(2):応力・ひずみ計測)
- MNM-3A-6 透過型電子顕微鏡によるSi単結晶の転位の観察(セッション 3A 単結晶・多結晶シリコンの疲労寿命評価とメカニズムの解明)
- 何でも見てやろう