上野 武夫 | (株)日立サイエンスシステムズ
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概要
関連著者
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上野 武夫
(株)日立サイエンスシステムズ
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上野 武夫
山梨大学 燃料電池ナノ材料研究センター
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日立サイエンスシステムズ
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矢口 紀恵
日立ハイテクノロジーズ 那珂事業所
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日立サイエンスシステムズ
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今野 充
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(株)日立サイエンスシステムズ
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(株)日立ハイテクノロジーズ
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橋本 隆仁
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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橋本 隆仁
(株)日立ハイテクノロジーズ ナノテクノロジー製品事業本部 那珂事業所 先端解析システム設計部
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日立サイエンスシステムズ
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(株)日立製作所中央研究所
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今野 充
株式会社日立ハイテクノロジーズ那珂事業所
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名古屋大学大学院工学研究科・量子工学専攻
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(株)日立ハイテクノロジーズ
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朝山 匡一郎
(株)日立製作所 半導体グループ
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梅村 馨
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小林 弘幸
日立製作所計測器事業部
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浦尾 亮一
茨城大学・工
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着本 享
京都大学大学院工学研究科
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坂 公恭
名古屋大学
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着本 享
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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朝山 匡一郎
ルネサンステクノロジ 生産技術部本部
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今野 充
株式会社日立サイエンスシステムズ
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佐々木 光正
スルザーメテコジャパン
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原田 広史
独立行政法人物質・材料研究機構環境・エネルギー材料領域超耐熱材料センター
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原田 広史
金属材料技術研究所
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佐々木 勝寛
名古屋大学工学部
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荒井 重勇
名古屋大学100万ボルト電子顕微鏡研究室
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渡部 明
日立ハイテクノロジーズ
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村上 正紀
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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坂 公恭
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荒井 重勇
名古屋大学
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坂 公恭
名古屋大学大学院工学研究科
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坂 公恭
名古屋大学工学部量子工学
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橋本 隆仁
日立ハイテクノロジーズ
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物質・材料研究機構材料研究機構・超耐熱材料グループ
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小池 英巳
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大沢 真人
金属材料技術研究所
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京大工
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小池 英巳
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日立ハイテクノロジーズ
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富松 聡
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松本 弘昭
日立サイエンスシステムズ
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トヨタ自動車株式会社第2材料技術部
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伊藤 和博
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伊藤 和博
京都大学大学院工学研究科
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大西 隆
株式会社神戸製鋼所技術開発本部
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村上 正紀
学校法人立命館
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名古屋大 大学院工学研究科
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村上 正紀
The Ritsumeikan Trust
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守山 実希
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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日高 貴志夫
株式会社日立製作所日立研究所
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日高 貴志夫
日立・日立研究所
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寺西 洋志
住友金属・技術部
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日立日立研
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小笠原 光雄
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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鍛示 和利
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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渡辺 万三志
Lawrence Berkeley National Lab.
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朝山 匡一郎
株式会社日立製作所半導体グループ
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矢口 紀恵
茨城大学工学部
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大西 毅
日立・計測器グループ
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浦尾 亮一
茨城大学 工学部
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着本 享
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
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原田 広史
物質・材料研究機構 材料研
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上野 武夫
(株)日立サイエンスシステムズサイエンスラボラトリ
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石谷 亨
日立ハイテクノロジーズ
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渡部 明
(株)日立ハイテクノロジーズ
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長久保 康平
(株)日立ハイテクノロジーズ
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松本 弘昭
(株)日立ハイテクノロジーズ
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上野 武夫
山梨大学・燃料電池ナノ材料研究センター
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日高 貴志夫
関西大大学院
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大西 隆
株式会社神戸製鋼所 技術開発本部
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柿林 博司
(株)日立ハイテクノロジーズ
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木下 圭介
トヨタ自動車株式会社 材料技術統括部 材料解析室
著作論文
- Ni基単結晶超合金高温クリープ試料のFIB/TEM評価
- ナノ構造材料解析のための前処理および観察技術
- FIBを用いたナノテク材料のピンポイント解析
- FIBマイクロピラー試料による三次元構造解析
- 集束イオンビ-ム加工法で作製した材料の透過電子顕微鏡による観察 (電子・イオン技術を用いた表面観察・分析の新展開)
- 環境TEM周辺技術の開発と応用
- Cu(Ti)合金微細配線における極薄バリア層の自己組織形成
- 二軸傾斜試料加熱装置の改良とその金属材料高温観察への応用
- 金属材料析出過程の高温その場観察とEELS分析
- Best Shot写真でひもとく未来材料 イオンと電子を用いた三次元構造解析
- ガス導入機構付き試料加熱ホルダを用いたCr酸化膜成長過程その場観察
- FIB-STEMシステムによるSiデバイス3D元素分布像観察
- 高電圧SEMによるLSIデバイスの3次元観察
- Fe合金溶射皮膜の電子顕微鏡試料作製とその断面観察
- FIB法によるFe合金溶射皮膜の薄膜作製と断面観察
- 三次元微細構造解析の新展開 (3D可視化技法の新展開)
- FIBマイクロサンプリング法による柱状試料の作製とその三次元元素分布像観察
- FIBを用いたソフトマテリアルの試料作製 (試料作製のノウハウ)
- 微細化・高集積化デバイス対応QTAT三次元ナノアナリシス技術 (特集1 ナノメートル時代の最先端半導体デバイスの量産を支えるベストソリューション)
- FIBマイクロサンプリングによる薄膜試料作製
- プラズモンロス像を用いた高温における動的元素マッピング
- 分析電子顕微鏡
- サブナノメートル領域の故障解析を実現する半導体デバイス評価システム (特集 最先端半導体デバイスの量産を支えるベストソリューション)
- 環境制御型透過電子顕微鏡の開発とその応用
- 固液界面の電子顕微鏡観察
- 電池関連ナノ材料の電顕解析 (ありのままを観る)