石谷 亨 | 日立ハイテクノロジーズ

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概要

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• 同名の論文著者
• 日立ハイテクノロジーズの論文著者

関連著者

• 石谷 亨

  日立ハイテクノロジーズ

• 小池 英巳

  (株)日立ハイテクノロジーズ

• 大西 毅

  株式会社日立ハイテクノロジーズ

• 上野 武夫

  (株)日立サイエンスシステムズ

• 上野 武夫

  日立サイエンスシステム テクノリサーチラボ

• 石谷 亨

  日立製作所計測器グループ

• 大西 毅

  日立製作所計測器事業部ビームテクノロジーセンタ

• 石谷 亨

  日立製作所計測器事業部ビームテクノロジーセンタ

著作論文

• FIB試料の最近の進歩 (新手法--21世紀に向けて)
• 集束イオンビ-ム加工法で作製した材料の透過電子顕微鏡による観察 (電子・イオン技術を用いた表面観察・分析の新展開)
• 集束イオンビームを利用したマイクロマシニングとデバイス移植

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