小池 英巳 | (株)日立ハイテクノロジーズ
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概要
関連著者
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小池 英巳
(株)日立ハイテクノロジーズ
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大西 毅
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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小池 英巳
(株)日立製作所計測器事業部
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上野 武夫
(株)日立サイエンスシステムズ
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上野 武夫
山梨大学 燃料電池ナノ材料研究センター
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今野 充
日立サイエンスシステムズ
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梅村 馨
(株)日立製作所中央研究所
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富松 聡
日立・中研
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今野 充
日立ハイテクノロジーズ
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矢口 紀恵
日立サイエンスシステムズ
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橋本 隆仁
日立製作所計測器グループ
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矢口 紀恵
日立ハイテクノロジーズ 那珂事業所
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矢口 紀恵
(株)日立サイエンスシステムズ
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橋本 隆仁
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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橋本 隆仁
(株)日立ハイテクノロジーズ ナノテクノロジー製品事業本部 那珂事業所 先端解析システム設計部
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富松 聡
(株)日立製作所中央研究所
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大西 毅
(株)日立ハイテクノロジーズ
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上野 武夫
日立サイエンスシステム テクノリサーチラボ
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上野 武夫
日立サイエンスシステムズ
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今野 充
(株)日立サイエンスシステムズ
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小池 英巳
日立・計測器グループ
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黒田 靖
日立サイエンスシステムズ
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石谷 亨
日立ハイテクノロジーズ
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上野 武夫
日立サイエンスシステム
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原田 広史
独立行政法人物質・材料研究機構環境・エネルギー材料領域超耐熱材料センター
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原田 広史
金属材料技術研究所
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武田 一男
東京医科歯科・生材研・情報
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橋本 隆仁
日立ハイテクノロジーズ
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柿林 博司
(株)日立製作所中央研究所
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中村 邦康
(株)日立製作所中央研究所
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簑和 恭子
(株)日立製作所中央研究所
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武田 一男
(株)日立製作所中央研究所
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大沢 真人
物質・材料研究機構材料研究機構・超耐熱材料グループ
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黒田 靖
(株)日立サイエンスシステムズ
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大沢 真人
金属材料技術研究所
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佐藤 雄司
日立・計測器事業部
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小池 英巳
(株)日立製作所計測器グループ
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朝山 匡一郎
(株)日立製作所 半導体グループ
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小池 英巳
日立ハイテクノロジーズ
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大西 毅
日立ハイテクノロジーズ
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梅村 馨
日立・中研
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松島 勝
(株)日立ハイテクノロジーズ
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小池 英巳
計測器グループ
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松本 弘昭
日立サイエンスシステムズ
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近藤 芳正
(株)日立製作所計測器グループ
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近藤 芳正
(株)日立ハイテクノロジーズデバイス製造装置事業統括本部先端製品営業本部
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朝山 匡一郎
ルネサンステクノロジ 生産技術部本部
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原田 広史
物質・材料研究機構 材料研
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柿林 博司
日立 中研
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柿林 博司
(株)日立ハイテクノロジーズ
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中村 邦康
(株)日立ハイテクノロジーズ科学・医用システム事業統括本部
著作論文
- TEM試料作製のためのマイクロサンプリング法
- Ni基単結晶超合金高温クリープ試料のFIB/TEM評価
- ナノ構造材料解析のための前処理および観察技術
- FIBを用いたナノテク材料のピンポイント解析
- FIBマイクロピラー試料による三次元構造解析
- 電子顕微鏡用マイクロサンプリング技術の開発
- μサンプリング法によるTEM試料作製技術
- FIB-TEMシステムの金属材料への応用
- FIB試料の最近の進歩 (新手法--21世紀に向けて)
- 集束イオンビ-ム加工法で作製した材料の透過電子顕微鏡による観察 (電子・イオン技術を用いた表面観察・分析の新展開)
- FB-2000A形FIB装置用マイクロサンプリングシステム