矢口 紀恵 | 日立ハイテクノロジーズ 那珂事業所
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概要
関連著者
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矢口 紀恵
日立サイエンスシステムズ
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矢口 紀恵
日立ハイテクノロジーズ 那珂事業所
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上野 武夫
山梨大学 燃料電池ナノ材料研究センター
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上野 武夫
(株)日立サイエンスシステムズ
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今野 充
日立サイエンスシステムズ
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矢口 紀恵
(株)日立サイエンスシステムズ
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今野 充
日立ハイテクノロジーズ
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橋本 隆仁
日立製作所計測器グループ
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橋本 隆仁
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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橋本 隆仁
(株)日立ハイテクノロジーズ ナノテクノロジー製品事業本部 那珂事業所 先端解析システム設計部
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矢口 紀恵
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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大西 毅
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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橋本 隆仁
日立・計測器グループ
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上野 武夫
日立サイエンスシステムズ
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上野 武夫
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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上野 武夫
日立サイエンスシステム テクノリサーチラボ
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上野 武夫
日立サイエンスシステム
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三宅 秀人
三重大学工学部電気電子工学科
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平松 和政
三重大学工学部電気電子工学科
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今野 充
株式会社日立ハイテクノロジーズ那珂事業所
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橋本 隆仁
日立ハイテクノロジーズ
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山路 浩規
三重大学工学部電気電子工学科
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寺田 雄祐
三重大学工学部電気電子工学科
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吉田 治正
三重大学工学部電気電子工学科
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小池 英巳
(株)日立ハイテクノロジーズ
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平松 和政
三重大 工
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吉田 治正
浜松ホトニクス株式会社
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今野 充
株式会社日立サイエンスシステムズ
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平松 和政
三重大学工学部電子電気工学科
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砂子沢 成人
日立・計測器グループ
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砂子沢 成人
株式会社日立ハイテクノロジーズ那珂事業所
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小池 英巳
(株)日立製作所計測器事業部
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黒田 靖
(株)日立サイエンスシステムズ
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今野 充
(株)日立サイエンスシステムズ
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浦尾 亮一
茨城大学工学部
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佐々木 光正
スルザーメテコジャパン(株)
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大西 毅
(株)日立ハイテクノロジーズ
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朝山 匡一郎
(株)日立製作所 半導体グループ
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黒田 靖
日立サイエンスシステムズ
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松本 弘昭
日立サイエンスシステムズ
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浦尾 亮一
茨城大学・工
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朝山 匡一郎
ルネサンステクノロジ 生産技術部本部
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佐々木 光正
スルザーメテコジャパン
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渡部 明
(株)日立ハイテクノロジーズ
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長久保 康平
(株)日立ハイテクノロジーズ
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松本 弘昭
(株)日立ハイテクノロジーズ
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上野 武夫
山梨大学・燃料電池ナノ材料研究センター
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原田 広史
独立行政法人物質・材料研究機構環境・エネルギー材料領域超耐熱材料センター
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原田 広史
金属材料技術研究所
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堀 史説
大阪府立大
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堀 史説
阪府大先端研
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渡部 明
日立ハイテクノロジーズ
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村上 正紀
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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上野 武夫
日立計測エンジニアリングテクノリサーチセンタ
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岩瀬 満雄
東海大学
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植木 泰光
日立サイエンスシステムズ
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田中 弘之
日立・計測器グループ
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柿林 博司
(株)日立製作所中央研究所
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梅村 馨
(株)日立製作所中央研究所
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大沢 真人
物質・材料研究機構材料研究機構・超耐熱材料グループ
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小池 英巳
日立・計測器グループ
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大沢 真人
金属材料技術研究所
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和泉 富雄
東海大学工学部
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大嶋 隆一郎
大阪ニュークリアサイエンス協会
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小林 弘幸
日立・計測器事業部
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伊藤 和博
京大工
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梅村 馨
日立・中研
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小林 弘幸
日立製作所計測器事業部
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森崎 弘
電気通信大学
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野崎 真次
電気通信大学
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和泉 富雄
東海大学総合科学技術研究所
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和泉 富雄
東海大学
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伊藤 和博
Department Of Materials Science And Engineering Kyoto University
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伊藤 和博
京都大学大学院工学研究科
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大西 隆
株式会社神戸製鋼所技術開発本部
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村上 正紀
学校法人立命館
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村上 正紀
The Ritsumeikan Trust
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着本 享
京都大学大学院工学研究科
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守山 実希
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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大嶋 隆一郎
大阪府立大学先端科学研究所
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岩瀬 満雄
東海大
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大嶋 隆一郎
大阪大学基礎工学部
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植木 泰光
株式会社日立サイエンスシステムズ
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小笠原 光雄
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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鍛示 和利
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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渡辺 万三志
Lawrence Berkeley National Lab.
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朝山 匡一郎
株式会社日立製作所半導体グループ
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矢口 紀恵
茨城大学工学部
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矢口 紀恵
日立計測エンジニアリング
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大西 毅
日立・計測器グループ
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浦尾 亮一
茨城大学 工学部
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着本 享
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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原田 広史
物質・材料研究機構 材料研
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上野 武夫
日立計測エンジニアリング
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大西 隆
株式会社神戸製鋼所 技術開発本部
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柿林 博司
(株)日立ハイテクノロジーズ
著作論文
- STEMにおけるデジタル画像
- 高加速STEM/SEM情報の有効活用
- HD-2000のプローブ径と観察および分析性能
- Ni基単結晶超合金高温クリープ試料のFIB/TEM評価
- ナノ構造GaNの高さ・密度制御とその反射防止・透過向上特性(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- ナノ構造GaNの高さ・密度制御とその反射防止・透過向上特性(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- ナノ構造GaNの高さ・密度制御とその反射防止・透過向上特性
- ナノ構造材料解析のための前処理および観察技術
- FIBを用いたナノテク材料のピンポイント解析
- SiO_2膜中のSiナノ結晶成長の高分解能その場観察
- Cu(Ti)合金微細配線における極薄バリア層の自己組織形成
- Best Shot写真でひもとく未来材料 イオンと電子を用いた三次元構造解析
- ガス導入機構付き試料加熱ホルダを用いたCr酸化膜成長過程その場観察
- FIB-STEMシステムによるSiデバイス3D元素分布像観察
- 高電圧SEMによるLSIデバイスの3次元観察
- Fe合金溶射皮膜の電子顕微鏡試料作製とその断面観察
- FIB法によるFe合金溶射皮膜の薄膜作製と断面観察
- シリコンの融解-凝固過程の電子顕微鏡その場観察(バルク成長分科会特集 : 結晶の完全性を目指して)
- FIB加工TEM試料の位置精度と分析精度に関する検討 (日本電子顕微鏡学会第43回シンポジウム論文集--21世紀へ向けての新技術の展開--平成10年10月28日(水)〜30日(金),千葉大学けやき会館〔含 著者名索引〕) -- (新しい試料作製技術)
- 三次元微細構造解析の新展開 (3D可視化技法の新展開)
- FIBマイクロサンプリング法による柱状試料の作製とその三次元元素分布像観察
- FIBを用いたソフトマテリアルの試料作製 (試料作製のノウハウ)
- 微細化・高集積化デバイス対応QTAT三次元ナノアナリシス技術 (特集1 ナノメートル時代の最先端半導体デバイスの量産を支えるベストソリューション)
- FIBマイクロサンプリングによる薄膜試料作製
- HD-2000超薄膜評価装置の電子回線折機能
- 透過電子顕微鏡および走査透過電子顕微鏡
- 環境制御型透過電子顕微鏡の開発とその応用
- 環境制御型透過電子顕微鏡の開発とその応用
- 電池関連ナノ材料の電顕解析 (ありのままを観る)