プラズモンロス像を用いた高温における動的元素マッピング
スポンサーリンク
概要
著者
-
佐々木 勝寛
名古屋大学工学部
-
坂 公恭
名古屋大学工学部
-
今野 充
日立サイエンスシステムズ
-
上野 武夫
日立サイエンスシステムズ
-
上野 武夫
(株)日立サイエンスシステムズ
-
上野 武夫
山梨大学 燃料電池ナノ材料研究センター
-
佐々木 勝寛
名古屋大学大学院工学研究科・量子工学専攻
-
着本 享
京都大学大学院工学研究科
-
坂 公恭
名大・大学院
-
坂 公恭
名古屋大学
-
着本 享
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
-
着本 享
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
-
上野 武夫
日立サイエンスシステム テクノリサーチラボ
-
今野 充
(株)日立ハイテクノロジーズ科学・医用システム事業統括本部
-
今野 充
日立ハイテクノロジーズ
-
上野 武夫
日立サイエンスシステム
関連論文
- 0.2%Al-Znめっき鋼板の合金化処理によるめっき構造の変化
- 自動車排気ガス浄化用助触媒における酸素吸放出過程のその場観察
- 自動車排ガス浄化用助触媒β-Ce_2Zr_2O_の高分解能像と電子損失エネルギー分光スペクトル
- 酸素欠損を含んだ自動車排ガス浄化用助触媒(β-Ce_2Zr_2O_)の高分解能像
- Ce_2Zr_2O_7とβ-Ce_2Zr_2O_の結晶構造
- 電子エネルギー損失分光法によるセリア-ジルコニア固溶体の規則相の解析
- セリア-ジルコニア固溶体の酸素吸収挙動と酸素欠陥
- Ce_2Zr_2O_における酸素の吸収挙動とCe_2Zr_2O_相の生成
- 還元したCeO_2-ZrO_2固溶体の室温での発熱を伴う急激な酸化反応
- STEMにおけるデジタル画像
- 高加速STEM/SEM情報の有効活用
- HD-2000のプローブ径と観察および分析性能
- Ni基単結晶超合金高温クリープ試料のFIB/TEM評価
- 水蒸気による希土類系水素吸蔵合金の表面酸化
- 水蒸気中で加熱したMmNi_5合金粉末の微細構造と材料特性
- 水蒸気中で加熱したMmNi_5合金粉末の表面層の微細構造
- ナノ構造材料解析のための前処理および観察技術
- FIBを用いたナノテク材料のピンポイント解析
- FIBマイクロピラー試料による三次元構造解析
- FIB-TEMシステムの金属材料への応用
- 集束イオンビ-ム加工法で作製した材料の透過電子顕微鏡による観察 (電子・イオン技術を用いた表面観察・分析の新展開)
- SiO_2膜中のSiナノ結晶成長の高分解能その場観察
- 環境TEM周辺技術の開発と応用
- NiO-Ni系における還元・酸化反応の透過電子顕微鏡その場観察
- Cu(Ti)合金微細配線における極薄バリア層の自己組織形成
- 名古屋大学超高圧電子顕微鏡グループのイノベーション事業の成果
- 二軸傾斜試料加熱装置の改良とその金属材料高温観察への応用
- 金属材料析出過程の高温その場観察とEELS分析
- 電子線ホログラフィーによる電界効果トランジスタ内二次元電位分布解析
- 22pXB-7 電子線ホログラフィによるシリコン p-n 接合電位分布計測の物理的意味
- FIBを用いた無機膜の微構造解析
- 透過型電子顕微鏡による溶融亜鉛めっき鋼板の断面観察
- TEMによるシリカ・ジルコニアガス分離膜の微構造観察
- 合金化処理による0.2mass%Al-Zn融体めっき皮膜の構造変化
- Zn融体/Fe反応界面のその場加熱観察
- FIB装置による溶融亜鉛めっき鋼板のTEM観察
- TEM による Fe-Zn 金属間化合物相の同定
- Fe-Zn系金属間化合物δ_とδ_相の機械的性質と微細組織
- Fe-Zn系金属間化合物Γ相の転位組織と規則度の変化
- Fe-Zn系金属間化合物ΓとΓ_1相の育成と機械的な性質
- TEMによる合金化溶融亜鉛めっき鋼板の微細構造観察 (TEM観察による鉄-亜鉛金属間化合物の相同定)
- Siダイオードアレイターゲットによる高エネルギー電子線撮像
- 超音波振動による発生したシリコン転位の電子顕微鏡観察
- 半導体デバイスにおけるSn-Ag-CuおよびSn-Ag-Cu-Biはんだと無電解Ni-Pとの接合界面のTEM観察
- 半導体デバイスにおけるSn-Agはんだと無電解Ni-Pとの接合界面のTEM観察
- 透過電子顕微鏡による融解・凝固のその場観察
- Al-CuAl_2共晶合金中の融解・凝固過程の電顕内その場観察
- 透過型電子顕微鏡を用いたガス雰囲気下高温その場観察
- 影像歪法による電場のその場観察
- 影像歪法による試料中の電場・磁場の観察
- 液晶ディスプレイの故障解析へのFIB/TEMの応用
- Best Shot写真でひもとく未来材料 イオンと電子を用いた三次元構造解析
- 集束イオンビームによる断面TEM試料作製
- 電子線ホログラフィーによる相補型 MOS(Complementary MOS) デバイス断面のドーパント分布解析
- 電子線ホログラフィーと集束イオンビームを用いた電界効果トランジスタ(MOSFET)断面の2次元電位分布解析
- シリコンデバイスにおける微少リークパスの FIB/TEM による解析
- 18pTH-6 電子線ホログラフィによるMOSFET断面の電位分布解析
- FIB照射により発生するGa析出物の電子顕微鏡観察
- 生きている半導体デバイスを観察するためのFIB加工技術の開発
- くさび形研磨とウェットエッチングによるシリサイド薄膜試料製作
- ガス導入機構付き試料加熱ホルダを用いたCr酸化膜成長過程その場観察
- FIB-STEMシステムによるSiデバイス3D元素分布像観察
- 高電圧SEMによるLSIデバイスの3次元観察
- Fe合金溶射皮膜の電子顕微鏡試料作製とその断面観察
- FIB法によるFe合金溶射皮膜の薄膜作製と断面観察
- シリコンの融解-凝固過程の電子顕微鏡その場観察(バルク成長分科会特集 : 結晶の完全性を目指して)
- FIB加工TEM試料の位置精度と分析精度に関する検討 (日本電子顕微鏡学会第43回シンポジウム論文集--21世紀へ向けての新技術の展開--平成10年10月28日(水)〜30日(金),千葉大学けやき会館〔含 著者名索引〕) -- (新しい試料作製技術)
- 三次元微細構造解析の新展開 (3D可視化技法の新展開)
- FIBマイクロサンプリング法による柱状試料の作製とその三次元元素分布像観察
- FIBを用いたソフトマテリアルの試料作製 (試料作製のノウハウ)
- 微細化・高集積化デバイス対応QTAT三次元ナノアナリシス技術 (特集1 ナノメートル時代の最先端半導体デバイスの量産を支えるベストソリューション)
- FIBマイクロサンプリングによる薄膜試料作製
- HD-2000超薄膜評価装置の電子回線折機能
- 電子顕微鏡写真展「ミクロの世界」および電子顕微鏡教室を開催して
- SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察
- 電子線ホログラフィーによる p-n 接合の観察
- シリコン単結晶のマイクロ磨耗
- シリコン単結晶のマイクロ摩耗特性と摩耗組織
- プラズモンロス像を用いた高温における動的元素マッピング
- 透過型電子顕微鏡による材料の組織およびプロセス評価における最近の進歩
- 合金化溶融亜鉛めっき鋼板における合金相の形成機構
- 材料工学における科研費申請
- 透過型電子顕微鏡による表面・界面の解析
- 透過電子顕微鏡および走査透過電子顕微鏡
- 転動疲労により生成した白色異常組織
- 転動疲労を受けた鋼中の亀裂近傍における微細組織
- メカニカルミリング処理SUS304L粉末焼結材の引張特性に及ぼす焼結条件の影響
- 液晶ディスプレイの製造工程におけるFIB/TEMの活用
- 半導体デバイスにおける半田接合界面のTEM観察
- 私が教科書を書いた理由
- 結晶中の格子欠陥のTEMによる解析
- 亀裂および亀裂周辺の欠陥構造の電顕平面観察
- VII. CVD超高硬度材料ダイヤモンド膜の微細構造
- 分析電子顕微鏡
- サブナノメートル領域の故障解析を実現する半導体デバイス評価システム (特集 最先端半導体デバイスの量産を支えるベストソリューション)
- 環境制御型透過電子顕微鏡の開発とその応用
- 固液界面の電子顕微鏡観察
- S12-08 イトカワにおける宇宙風化(口頭セッション12:はやぶさ,口頭発表)
- 電池関連ナノ材料の電顕解析 (ありのままを観る)
- 低転位密度の金属単結晶 (結晶成長(特集))