透過型電子顕微鏡による溶融亜鉛めっき鋼板の断面観察
スポンサーリンク
概要
著者
-
坂 公恭
名古屋大学工学部
-
加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンター
-
坂 公恭
名古屋大学大学院工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大学工学部量子工学
-
加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
-
加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所
-
坂 公恭
名古屋大学工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大 大学院工学研究科
-
洪 文熹
Case-Western Reserve University, Cleveland, USA
-
坂 公恭
名古屋大学
-
洪 文熹
Case-western Reserve University Cleveland Usa
関連論文
- REBa_2Cu_3O_線材用二軸配向基板の配向度に与えるIBAD-MgO層の表面ラフネスの影響
- ナノ粒子導入TFA-MOD Y_Sm_xBa_2Cu_3O_y線材のJ_c-B-θ特性
- 0.2%Al-Znめっき鋼板の合金化処理によるめっき構造の変化
- 人工ピンを導入したYBCO線材の磁場中特性(その2)
- 人工ピンを導入したYBCO線材の磁場中特性
- PLD-CeO_2/IBAD-GZO金属基板上での人工ピンニングセンター導入GdBa_2Cu_3O_線材の厚膜化検討
- 人工ピン導入によるPLD/IBAD金属基板上YBCO膜の磁場特性
- PLD-CeO_2/IBAD-GZO金属基板上でのGdBa_2Cu_3O_線材の厚膜化検討
- PLD-CeO_2/IBAD金属基板上の人工ピンの研究 : GdBa_2Cu_3O_線材の磁場中特性
- 自動車排気ガス浄化用助触媒における酸素吸放出過程のその場観察
- 自動車排ガス浄化用助触媒β-Ce_2Zr_2O_の高分解能像と電子損失エネルギー分光スペクトル
- 酸素欠損を含んだ自動車排ガス浄化用助触媒(β-Ce_2Zr_2O_)の高分解能像
- Ce_2Zr_2O_7とβ-Ce_2Zr_2O_の結晶構造
- 電子エネルギー損失分光法によるセリア-ジルコニア固溶体の規則相の解析
- セリア-ジルコニア固溶体の酸素吸収挙動と酸素欠陥
- Ce_2Zr_2O_における酸素の吸収挙動とCe_2Zr_2O_相の生成
- 還元したCeO_2-ZrO_2固溶体の室温での発熱を伴う急激な酸化反応
- IBAD-PLD法長尺YBCO線材の開発 : IBAD中間層上における自己配向PLD-CeO_2キャップ層の長尺化
- IBAD-MgO膜の表面ラフニング
- IBAD-MgO上に製膜したREBCO線材のc軸相関ピン
- IBAD-MgO上に製膜したYBCO線材の微細構造と磁束ピンニング特性
- YbBCOシード層を用いたIBAD-MgO上YBCO線材の超伝導特性
- Nd:YAGパルスレーザー蒸着法を用いて作製したYBCO薄膜の超伝導特性
- TFA-MOD Y_RE_xBa_2Cu_3O_y線材の磁場中高J_c化
- IBAD-MgO基板をベースにしたREBCO線材開発
- 水蒸気による希土類系水素吸蔵合金の表面酸化
- 水蒸気中で加熱したMmNi_5合金粉末の微細構造と材料特性
- 水蒸気中で加熱したMmNi_5合金粉末の表面層の微細構造
- YBCO超電導線材の過電流パルス通電による特性劣化
- YBCO超電導線材の過電流パルス通電による特性劣化
- 環境TEM周辺技術の開発と応用
- Gd_2Zr_2O_7及びMgO-IBAD基板をベースにしたREBCO線材プロセスの比較
- 磁場中で高い臨界電流特性を持つIBAD-PLD法超電導線材
- MgOを用いたIBAD基板プロセスの検討
- 名古屋大学超高圧電子顕微鏡グループのイノベーション事業の成果
- 集束イオンビームによる試料作製とビームダメージ層除去
- 分析のためのFIB試料作製 (試料作製の新展開)
- FIB-マイクロサンプリングとArイオンミリングを併用した高分解能観察試料作製技術の開発
- MO観察で特定したYBCO線材欠陥部位のSIM及びTEMによる微細構造観察
- 積層IBAD中間層基板の開発
- 17%Cr-Mn-Niオーステナイト系ステンレス鋼の短時間酸化スケールの微細構造(表面処理・腐食)
- 電子線ホログラフィーによる電界効果トランジスタ内二次元電位分布解析
- 22pXB-7 電子線ホログラフィによるシリコン p-n 接合電位分布計測の物理的意味
- FIBを用いた無機膜の微構造解析
- 透過型電子顕微鏡による溶融亜鉛めっき鋼板の断面観察
- TEMによるシリカ・ジルコニアガス分離膜の微構造観察
- TEMによる融体Zn/Fe反応界面のその場加熱観察
- 合金化処理による0.2mass%Al-Zn融体めっき皮膜の構造変化
- Zn融体/Fe反応界面のその場加熱観察
- FIB装置による溶融亜鉛めっき鋼板のTEM観察
- TEM による Fe-Zn 金属間化合物相の同定
- Fe-Zn系金属間化合物δ_とδ_相の機械的性質と微細組織
- Fe-Zn系金属間化合物Γ相の転位組織と規則度の変化
- Fe-Zn系金属間化合物ΓとΓ_1相の育成と機械的な性質
- TEMによる合金化溶融亜鉛めっき鋼板の微細構造観察 (TEM観察による鉄-亜鉛金属間化合物の相同定)
- Siダイオードアレイターゲットによる高エネルギー電子線撮像
- 超音波振動による発生したシリコン転位の電子顕微鏡観察
- 半導体デバイスにおけるSn-Ag-CuおよびSn-Ag-Cu-Biはんだと無電解Ni-Pとの接合界面のTEM観察
- 半導体デバイスにおけるSn-Agはんだと無電解Ni-Pとの接合界面のTEM観察
- 透過電子顕微鏡による融解・凝固のその場観察
- 透過型電子顕微鏡を用いたガス雰囲気下高温その場観察
- 影像歪法による試料中の電場・磁場の観察
- 液晶ディスプレイの故障解析へのFIB/TEMの応用
- 集束イオンビームによる断面TEM試料作製
- 電子線ホログラフィーによる相補型 MOS(Complementary MOS) デバイス断面のドーパント分布解析
- 電子線ホログラフィーと集束イオンビームを用いた電界効果トランジスタ(MOSFET)断面の2次元電位分布解析
- シリコンデバイスにおける微少リークパスの FIB/TEM による解析
- 18pTH-6 電子線ホログラフィによるMOSFET断面の電位分布解析
- FIB照射により発生するGa析出物の電子顕微鏡観察
- くさび形研磨とウェットエッチングによるシリサイド薄膜試料製作
- 電子顕微鏡写真展「ミクロの世界」および電子顕微鏡教室を開催して
- SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察
- 電子線ホログラフィーによる p-n 接合の観察
- シリコン単結晶のマイクロ磨耗
- シリコン単結晶のマイクロ摩耗特性と摩耗組織
- プラズモンロス像を用いた高温における動的元素マッピング
- 透過型電子顕微鏡による材料の組織およびプロセス評価における最近の進歩
- 合金化溶融亜鉛めっき鋼板における合金相の形成機構
- 材料工学における科研費申請
- 透過型電子顕微鏡による表面・界面の解析
- 転動疲労により生成した白色異常組織
- 転動疲労を受けた鋼中の亀裂近傍における微細組織
- 透過型電子顕微鏡による材料評価
- 液晶ディスプレイの製造工程におけるFIB/TEMの活用
- 半導体デバイスにおける半田接合界面のTEM観察
- 私が教科書を書いた理由
- 結晶中の格子欠陥のTEMによる解析
- 亀裂および亀裂周辺の欠陥構造の電顕平面観察
- VII. CVD超高硬度材料ダイヤモンド膜の微細構造
- 銅配向基板を用いたYBa_2Cu_3O_超電導線材の微細構造観察
- 財団法人 ファインセラミックスセンター 材料技術研究所 微構造解析・計算グループ
- T0302-2-5 Si単結晶中の転位の透過型電子顕微鏡による解析([T0302-2]高信頼マイクロ・ナノデバイスのための設計・計測技術(2):応力・ひずみ計測)
- 気体分離用シリカ-ジルコニア膜の開発
- ピーク効果を持つY-Ba-Cu-O超電導体のTEM観察
- 317 電子ビームPVD法による遮熱コーティングの耐酸化性向上(OS2-3 皮膜・薄膜の環境強度,OS2 薄膜・皮膜とその膜構造の特性評価)
- MNM-3A-6 透過型電子顕微鏡によるSi単結晶の転位の観察(セッション 3A 単結晶・多結晶シリコンの疲労寿命評価とメカニズムの解明)
- FIBを用いたTEM試料作製技術
- 低転位密度の金属単結晶 (結晶成長(特集))
- 何でも見てやろう
- 微量のBaHfO_3を添加したYBa_2Cu_3O_y薄膜の低磁場下における磁束ピンニング特性