MNM-3A-6 透過型電子顕微鏡によるSi単結晶の転位の観察(セッション 3A 単結晶・多結晶シリコンの疲労寿命評価とメカニズムの解明)
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概要
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Dislocations were introduced into Si single crystals between 90 and 200℃ by scratching. The dislocations were examined by transmission electron microscopy and their natures (snuffle set or glide set) determined.
- 2010-10-12
著者
-
坂 公恭
名古屋大
-
坂 公恭
名大
-
坂 公恭
名古屋大学大学院工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大学工学部量子工学
-
坂 公恭
名古屋大 大学院工学研究科
-
坂 公恭
名大・大学院
-
坂 公恭
名古屋大学
-
奥野 智子
名大
-
鈴木 敏之
名大
-
吉川 佳子
名大
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