坂 公恭 | 名古屋大学工学研究科
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概要
関連著者
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坂 公恭
名古屋大学工学部
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坂 公恭
名古屋大学大学院工学研究科
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坂 公恭
名古屋大学工学部量子工学
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坂 公恭
名古屋大学工学研究科
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坂 公恭
名古屋大 大学院工学研究科
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坂 公恭
名古屋大学
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加藤 直子
株式会社アイテス品質技術部
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坂 公恭
名古屋大
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坂 公恭
名大・大学院
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室賀 啓
愛知製鋼(株)開発企画部
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加藤 直子
株式会社アイテス
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藤田 芳和
名古屋大学医学部教育研究機器センター
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田中 信夫
名古屋大学
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加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンター
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竹本 一八男
株式会社日立製作所 中央研究所
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竹本 一八男
株式会社日立製作所中央研究所
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小林 身哉
名古屋大学・医・解剖2
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高井 義造
大阪大学大学院工学研究科
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加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
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加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所
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志水 隆一
大工大
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志水 隆一
大阪大学大学院工学研究科
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志水 隆一
大阪工業大学
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尾坂 知江子
名古屋市科学館
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Takai Yoshiaki
Nagoya University
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戸所 秀男
株式会社日立製作所中央研究所
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加藤 直子
(株)アイテス 技術事業部 品質技術部
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洪 文熹
Case-Western Reserve University, Cleveland, USA
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芦川 幹雄
株式会社日立製作所中央研究所
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志水 隆一
Osaka Inst. Technol. Osaka Jpn
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志水 隆一
大阪工業大学情報科学部情報科学科
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多留谷 政良
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
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松澤 寿一
株式会社アイテス
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河野 好映
野洲セミコンダクター株式会社
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丸山 秀夫
(株)アイテス半導体故障解析
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田中 健治
放送大学
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芦川 幹雄
株式会社日立製作所 茂原工場
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芦川 幹雄
(株)日立製作所茂原工場
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室賀 啓
愛知鉄鋼(株)
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安部 俊輔
名古屋大学大学院
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洪 文熹
Case-western Reserve University Cleveland Usa
著作論文
- 透過型電子顕微鏡による溶融亜鉛めっき鋼板の断面観察
- Siダイオードアレイターゲットによる高エネルギー電子線撮像
- 集束イオンビームによる断面TEM試料作製
- シリコンデバイスにおける微少リークパスの FIB/TEM による解析
- くさび形研磨とウェットエッチングによるシリサイド薄膜試料製作
- 電子顕微鏡写真展「ミクロの世界」および電子顕微鏡教室を開催して
- 透過型電子顕微鏡による材料の組織およびプロセス評価における最近の進歩
- 合金化溶融亜鉛めっき鋼板における合金相の形成機構
- 材料工学における科研費申請
- 透過型電子顕微鏡による表面・界面の解析
- 転動疲労により生成した白色異常組織
- 転動疲労を受けた鋼中の亀裂近傍における微細組織
- 私が教科書を書いた理由
- 結晶中の格子欠陥のTEMによる解析
- 亀裂および亀裂周辺の欠陥構造の電顕平面観察