財団法人 ファインセラミックスセンター 材料技術研究所 微構造解析・計算グループ
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2005-10-01
著者
関連論文
- REBa_2Cu_3O_線材用二軸配向基板の配向度に与えるIBAD-MgO層の表面ラフネスの影響
- ナノ粒子導入TFA-MOD Y_Sm_xBa_2Cu_3O_y線材のJ_c-B-θ特性
- IBAD-PLD法長尺YBCO線材の開発 : IBAD中間層上における自己配向PLD-CeO_2キャップ層の長尺化
- IBAD-MgO膜の表面ラフニング
- IBAD-MgO上に製膜したREBCO線材のc軸相関ピン
- IBAD-MgO上に製膜したYBCO線材の微細構造と磁束ピンニング特性
- YbBCOシード層を用いたIBAD-MgO上YBCO線材の超伝導特性
- Nd:YAGパルスレーザー蒸着法を用いて作製したYBCO薄膜の超伝導特性
- TFA-MOD Y_RE_xBa_2Cu_3O_y線材の磁場中高J_c化
- In-plume PLD 法で reel-to-reel 成膜したGdBCO線材の磁場中I_c特性
- 23pTC-12 球面収差補正TEM・ナノ電子回折を用いた金属ガラスの局所構造解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- IBAD-MgO基板をベースにしたREBCO線材開発
- YBCO超電導線材の過電流パルス通電による特性劣化
- YBCO超電導線材の過電流パルス通電による特性劣化
- 27pRE-4 電子回折顕微法によるサブオングストローム分解能観察の可能性(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- Gd_2Zr_2O_7及びMgO-IBAD基板をベースにしたREBCO線材プロセスの比較
- 磁場中で高い臨界電流特性を持つIBAD-PLD法超電導線材
- 集束イオンビームによる試料作製とビームダメージ層除去
- 分析のためのFIB試料作製 (試料作製の新展開)
- FIB-マイクロサンプリングとArイオンミリングを併用した高分解能観察試料作製技術の開発
- MO観察で特定したYBCO線材欠陥部位のSIM及びTEMによる微細構造観察
- 26aYF-7 球面収差補正制限視野ナノ回折法を用いた入射波動場及び可干渉度の測定(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pTC-13 制限視野ナノ電子回折法を用いた回折顕微法(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 積層IBAD中間層基板の開発
- 17%Cr-Mn-Niオーステナイト系ステンレス鋼の短時間酸化スケールの微細構造(表面処理・腐食)
- 電子線ホログラフィーによる電界効果トランジスタ内二次元電位分布解析
- 2A18 ゾルーゲル法により多孔体アルミナ基材上に製膜されたシリカ・ジルコニア膜の TEM による微構造解析
- 透過型電子顕微鏡による溶融亜鉛めっき鋼板の断面観察
- TEMによるシリカ・ジルコニアガス分離膜の微構造観察
- IBAD法中間層材料の配向成長におけるRE元素依存性
- 銅配向基板を用いたYBa_2Cu_3O_超電導線材の微細構造観察
- 財団法人 ファインセラミックスセンター 材料技術研究所 微構造解析・計算グループ
- 気体分離用シリカ-ジルコニア膜の開発
- ピーク効果を持つY-Ba-Cu-O超電導体のTEM観察
- 317 電子ビームPVD法による遮熱コーティングの耐酸化性向上(OS2-3 皮膜・薄膜の環境強度,OS2 薄膜・皮膜とその膜構造の特性評価)
- FIBを用いたTEM試料作製技術
- 微量のBaHfO_3を添加したYBa_2Cu_3O_y薄膜の低磁場下における磁束ピンニング特性