藪内 康文 | 株式会社松下テクノリサーチ

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概要

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• 同名の論文著者
• 株式会社松下テクノリサーチの論文著者

関連著者

• 藪内 康文

  株式会社松下テクノリサーチ

• 神前 隆

  株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム

• 岡野 哲之

  株式会社 松下テクノリサーチ薄膜分析グループ

• 岡野 哲之

  松下テクノリサーチ

• 藪内 康文

  株式会社松下テクノリサ一チ

• 藪内 康文

  (株)松下テクノリサーチ

• 為藤 さよ子

  株式会社 松下テクノリサーチ薄膜分析グループ

• 為藤 さよ子

  株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム

• 藪内 康文

  松下テクノリサーチ

• 岡野 哲之

  株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム

• 神前 隆

  (株)松下テクノリサーチ

• 佐々木 勝寛

  名古屋大学工学部

• 坂 公恭

  名古屋大学工学部

• 田中 信夫

  名古屋大学

• 桑野 範之

  九州大学

• 上田 修

  (株)富士通研究所

• 仲井 清眞

  愛媛大学工学部機能材料工学科

• 上田 修

  株式会社富士通研究所材料・環境技術研究所

• 市野瀬 英喜

  東京大学大学院新領域創成科学研究科

• 坂 公恭

  名古屋大

• 桑野 範之

  九州大学先端科学技術共同研究センター

• 市野瀬 英喜

  東京大学

• 坂 公恭

  名古屋大学工学部量子工学

• 一色 俊之

  京都工芸繊維大

• 塩尻 詢

  京都工芸繊維大

• 仲井 清眞

  愛媛大学 大学院理 工学研究科

• 仲井 清眞

  愛媛大学

• 成沢 忠

  松下電器産業半導体研究センター

• 一色 俊之

  京都工繊大 工芸

• 小川 和朗

  京都大学医学部

• 大川 和宏

  松下電器産業(株)半導体研究センター

• 三露 常男

  松下中研

• 林 茂生

  松下電器産業(株)

• 完山 正林

  エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社

• 神前 隆

  株式会社 松下テクノリサーチ薄膜分析グループ

• 藪内 康文

  株式会社 松下テクノリサーチ薄膜分析グループ

• 佐々木 勝寛

  名古屋大学大学院工学研究科・量子工学専攻

• 中村 吉男

  東京工業大学大学院

• 中村 吉男

  東京工業大学・工学部

• 中村 吉男

  東京工大・工

• 中村 吉男

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 小川 和朗

  京都大学

• 高橋 康仁

  松下電器産業半導体研究センター

• 大川 和宏

  ブレ-メン大固体物理研

• 大川 和宏

  松下電器産業 中研

• 岡野 哲之

  (株)松下テクノリサーチ

• 三露 常男

  松下電器産業(株)中央研究所

• 西条 浩志

  京都工芸繊維大学工芸学部

• 寧 剛

  京都大学医学部

• 大塚 信之

  松下電器半導体センター

• 松井 康

  松下電器産業(株)半導体研究センター

• 大塚 信之

  松下電器産業株式会社半導体研究センター

• 石野 正人

  松下電器産業株式会社マルチメディア開発センター

• 鬼頭 雅弘

  松下電器産業(株)半導体研究センター

• 一色 俊之

  京都工芸繊維大学工芸科学研究科

• 五十嵐 信行

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気株式会社

• 林 茂生

  松下中研

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム株式会社APTO品質

• 坂 公恭

  名大・大学院

• 松井 康

  松下電子工業技術本部電子総合研究所

• 松井 康

  松下電器産業(株) 半導体研究センター

• 王 洲光

  財団法人ファインセラミックスセンター

• 冨田 雅人

  ユーニング研究所

• 上田 修

  株式会社富士通研究所

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム(株) ディスプレー・テクノロジー

• 坂 公恭

  名古屋大学

• 塩尻 詢

  国際電子顕微鏡学会連合

• 王 洲光

  ジャパンファインセラミックスセンター

• 平山 司

  ジャパンファインセラミックスセンター

• 林 茂生

  くらし環境開発セ

• 石野 正人

  松下電子工業

• Otsuka Nobuyuki

  Semiconductor Research Center Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.

• Otsuka Nobuyuki

  Advanced Technology Research Laboratories Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.

• Otsuka Nobuyuki

  Telecommunications Advancement Organization Of Japan Sendai Research Center

• 稲里 幸子

  (株)松下テクノリサーチ

• 細川 鉄平

  株式会社松下テクノリサーチ

• 荒井 美奈

  株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム

• 為藤 さよ子

  (株)松下テクノリサーチ

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム(株)

• 成沢 忠

  松下電器産業 (株) 半導体研究センター

• 中村 吉男

  東京工業大学

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著作論文

• AlGaAs系化合物半導体におけるFIBダメージ層の評価
• CdZnSe/ZnSe SCH構造のTEM,CL観察
• 特集企画にあたって
• InGaAsP 歪量子井戸におけるPL発光特性の成長温度依存性
• 電子線ホログラフィーによる p-n 接合の観察
• CLによるGaAsデバイス内の応力評価
• 低加速電圧走査電子顕微鏡による電子材料の評価技術
• 半導体デバイス観察へのFIBの適用
• EM-EDS 法による化合物半導体レーザの組成定量評価
• 半導体レーザの断面TEM観察:FIB試料作製法の検討
• V. デバイス, デバイス材料 半導体デバイスのPin-Point欠陥解析

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