上田 修 | 株式会社富士通研究所材料・環境技術研究所

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概要

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関連著者

• 上田 修

  株式会社富士通研究所材料・環境技術研究所

• 上田 修

  株式会社富士通研究所

• 田中 信夫

  名古屋大学

• 桑野 範之

  九州大学

• 上田 修

  (株)富士通研究所

• 仲井 清眞

  愛媛大学工学部機能材料工学科

• 上田 修

  株)富士通研究所

• 上田 修

  株式会社 富士通研究所 基盤技術研究所

• 上田 修

  富士通研究所・材料技術研究所

• 市野瀬 英喜

  東京大学大学院新領域創成科学研究科

• 桑野 範之

  九州大学先端科学技術共同研究センター

• 市野瀬 英喜

  東京大学

• 仲井 清眞

  愛媛大学 大学院理 工学研究科

• 仲井 清眞

  愛媛大学

• 中村 吉男

  東京工業大学大学院

• 中村 吉男

  東京工業大学・工学部

• 中村 吉男

  東京工大・工

• 中村 吉男

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 五十嵐 信行

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気株式会社

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム株式会社APTO品質

• 冨田 雅人

  ユーニング研究所

• 藪内 康文

  株式会社松下テクノリサ一チ

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム(株) ディスプレー・テクノロジー

• 藪内 康文

  株式会社松下テクノリサーチ

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム(株)

• 中村 吉男

  東京工業大学

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著作論文

• ULSI開発に不可欠なナノレベル分析・評価技術
• [特別講演]光デバイスの信頼性と劣化機構 : 結晶・界面制御とデバイス信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)
• 半導体超格子
• 化合物半導体デバイスのTEM解析
• 特集企画にあたって
• [特別講演]光デバイスの信頼性と劣化機構 : 結晶・界面制御とデバイス信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

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