辻本 勝浩 | 九州大学超高圧電子顕微鏡室
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概要
関連著者
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辻本 勝浩
九州大学超高圧電子顕微鏡室
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辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所
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辻 智
日本アイ・ビー・エム(株)
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坂 公恭
名古屋大学
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黒田 光太郎
名古屋大学大学院工学研究科
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坂 公恭
名大・大学院
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辻本 勝浩
日本アイ・ビー・エム(株)
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黒田 光太郎
名古屋大学工学部
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坂 公恭
名古屋大学工学部
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坂 公恭
名古屋大
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北田 正弘
東京芸術大学大学院美術研究科
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北田 正弘
東京芸術大学
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辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社APTO品質
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辻本 勝浩
九州大学大学院総合理工学府
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辻本 勝浩
日本IBM(株)
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黒田 光太郎
名大工
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棚橋 高成
日本アイ・ビー・エム株式会社東京基礎研究所インダストリアルテクノロジー
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坂 公恭
名古屋大学大学院工学研究科
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坂 公恭
名古屋大学工学部量子工学
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高林 弘実
東京芸術大学大学院美術研究科文化財保存学専攻 保存科学研究室美術工芸材料学講座
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高林 弘実
東京芸術大学大学院美術研究科
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坂 公恭
名大・工
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黒田 光太郎
名城大学学長室
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坂 公恭
名古屋大 大学院工学研究科
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辻 智
インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術
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高辻 博史
日本アイ・ビー・エム(株)
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辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所apto品質・プロセス
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辻 智
日本アイ・ビー・エム(株) ディスプレー・テクノロジー
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北田 正弘
東京芸術大学大学院美術研究科文化財保存学専攻 保存科学研究室美術工芸材料学講座
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神保 健一
伯東(株)
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春田 和宏
名古屋大学工学研究科
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鈴木 幸伸
名古屋大学工学研究科
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高辻 博史
日本IBM(株)
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辻 智
日本IBM(株)
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辻 智
名大・工
著作論文
- 液晶ディスプレイの故障解析へのFIB/TEMの応用
- 透過型電子顕微鏡および有限要素法によるACF接続における導電性粒子変形のマイクロ・キャラクタリゼーション
- 液晶ディスプレイの製造工程におけるFIB/TEMの活用
- LCD用Al配線上に発生したウィスカー, ヒロックの平面TEM観察
- マイクロマニピュレータを用いたTEM試料作製法の検討
- 江戸時代後期の木版画に使われた鉛丹の変色と化学組成の変化
- ガラス基板上のAl膜のストレスマイグレーションの制御
- FIB/TEM法を用いた江戸後期漆器の着色顔料の微細構造解析
- 断面 TEM 解析の液晶ディスプレイ実装技術への応用