辻 智 | インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術

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概要

• 同名の論文著者
• インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術の論文著者

関連著者

• 辻 智

  インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所apto品質・プロセス

• 田村 徹

  東京工芸大学工学部

• 田村 徹

  東京工芸大学工学部メディア画像学科

• 棚橋 高成

  日本アイ・ビー・エム株式会社東京基礎研究所インダストリアルテクノロジー

• 吉武 良治

  日本アイ・ビー・エム株式会社, 大和事業所, 人間工学

• 田村 徹

  東京工芸大

• 吉武 良治

  日本アイ・ビー・エム ユーザエクスペリエンス・デザインセ

• 吉武 良治

  日本アイビーエム

• 吉武 良治

  日本アイ・ビー・エム株式会社ユーザエクスペリエンス・デザインセンター

• 田村 徹

  東京工芸大学工学部画像工学科

• 黒田 光太郎

  名古屋大学工学部

• 坂 公恭

  名古屋大学工学部

• 森 由美

  日本アイ・ピー・エム株式会社エンジニアリング&テクノロジーサービス

• 黒田 光太郎

  名古屋大学大学院工学研究科

• 坂 公恭

  名古屋大

• 森口 喜代

  日本アイ・ビー・エム株式会社, 大和事業所, 人間工学

• 森 由美

  インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術

• 棚橋 高成

  インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術

• 坂 公恭

  名大・大学院

• 辻本 勝浩

  九州大学超高圧電子顕微鏡室

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所

• 坂 公恭

  名古屋大学

• 棚橋 高成

  日本アイ・ビー・エム

• 辻本 勝浩

  日本アイ・ビー・エム(株)

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム(株)

• 森口 喜代

  日本アイ・ビー・エム株式会社ユーザエクスペリエンス・デザインセンター

• 森口 喜代

  日本アイ・ビー・エム

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著作論文

• 認識限界コントラストに基づいた輝度ムラの定量化手法(ヒューマンインフォメーション)
• 人間の感覚に対応した液晶ディスプレイのムラ定量化に関する一提案
• ノートパソコン・ヒンジのマイクロトライボロジー特性とその評価
• 液晶ディスプレイの製造工程におけるFIB/TEMの活用

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