森口 喜代 | 日本アイ・ビー・エム

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概要

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関連著者

• 森口 喜代

  日本アイ・ビー・エム

• 森口 喜代

  日本アイ・ビー・エム株式会社, 大和事業所, 人間工学

• 吉武 良治

  日本アイ・ビー・エム株式会社, 大和事業所, 人間工学

• 吉武 良治

  日本アイ・ビー・エム ユーザエクスペリエンス・デザインセ

• 吉武 良治

  日本アイビーエム

• 森口 喜代

  日本アイ・ビー・エム株式会社ユーザエクスペリエンス・デザインセンター

• 森 由美

  日本アイ・ピー・エム株式会社エンジニアリング&テクノロジーサービス

• 棚橋 高成

  日本アイ・ビー・エム株式会社東京基礎研究所インダストリアルテクノロジー

• 吉武 良治

  日本アイ・ビー・エム株式会社ユーザエクスペリエンス・デザインセンター

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所apto品質・プロセス

• 田村 徹

  東京工芸大学工学部

• 吉澤 徹

  東京農工大学工学部

• 田村 徹

  東京工芸大学工学部メディア画像学科

• 土屋 和夫

  日本アイ・ビー・エム株式会社 大和事業所 人間工学

• 土屋 和夫

  日本アイ・ビー・エム(株) 大和研究所 人間工学

• 田村 徹

  東京工芸大

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム株式会社APTO品質

• 森 由美

  インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術

• 棚橋 高成

  インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術

• 辻 智

  インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術

• 吉澤 徹

  東京農工大学機械システム工学

• 田村 徹

  東京工芸大学工学部画像工学科

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム(株) ディスプレー・テクノロジー

• 棚橋 高成

  日本アイ・ビー・エム

• 森 由美

  日本アイ・ビー・エム(株)エンジニアリング&テクノロジーサービス

• 辻 智

  日本アイ・ビー・エム(株)

• 森 由美

  日本アイ・ビー・エム

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著作論文

• 高精細・大画面LCDの有効的な使用方法に関する検討
• 人間工学設計・評価に基づいた液晶ディスプレイの画像品位測定手法
• 認識限界コントラストに基づいた輝度ムラの定量化手法(ヒューマンインフォメーション)
• IDW2003参加報告

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