辻 智 | 日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所apto品質・プロセス
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概要
関連著者
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辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所apto品質・プロセス
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棚橋 高成
日本アイ・ビー・エム株式会社東京基礎研究所インダストリアルテクノロジー
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辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社APTO品質
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辻 智
日本アイ・ビー・エム(株)
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森 由美
日本アイ・ピー・エム株式会社エンジニアリング&テクノロジーサービス
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吉武 良治
日本アイ・ビー・エム株式会社, 大和事業所, 人間工学
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吉武 良治
日本アイ・ビー・エム ユーザエクスペリエンス・デザインセ
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吉武 良治
日本アイビーエム
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吉武 良治
日本アイ・ビー・エム株式会社ユーザエクスペリエンス・デザインセンター
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棚橋 高成
日本アイ・ビー・エム
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田村 徹
東京工芸大学工学部
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田村 徹
東京工芸大学工学部メディア画像学科
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田村 徹
東京工芸大
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辻 智
インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術
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田村 徹
東京工芸大学工学部画像工学科
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辻 智
日本アイ・ビー・エム(株) ディスプレー・テクノロジー
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森 由美
日本アイ・ビー・エム(株)エンジニアリング&テクノロジーサービス
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森 由美
日本アイ・ビー・エム
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森口 喜代
日本アイ・ビー・エム株式会社, 大和事業所, 人間工学
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森口 喜代
日本アイ・ビー・エム株式会社ユーザエクスペリエンス・デザインセンター
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森口 喜代
日本アイ・ビー・エム
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吉澤 徹
東京農工大学工学部
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田村 徹
東京工芸大学大学院工学研究科画像工学専攻
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中西 徹
日本アイ・ビー・エム(株)野洲事業所
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中西 徹
日本アイ・ビー・エム
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牛田 典彦
東京工芸大学大学院工学研究科画像工学専攻
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森 由美
インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術
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棚橋 高成
インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術
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竹中 俊江
東京工芸大学
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牛田 典彦
東京工芸大学工学部画像工学科
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吉澤 徹
東京農工大学機械システム工学
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小山田 耕二
京都大学工学研究科
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西田 秀行
インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社野洲本社製造オペレーションモジュール製造
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辻本 勝浩
九州大学超高圧電子顕微鏡室
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高辻 博史
日本アイ・ビー・エム(株)
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竹中 俊江
東京工芸大学工学部 画像工作科
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竹中 俊江
東京工芸大学大学院工学研究科画像工学専攻
著作論文
- 人間工学設計・評価に基づいた液晶ディスプレイの画像品位測定手法
- 認識限界コントラストに基づいた輝度ムラの定量化手法(ヒューマンインフォメーション)
- 人間の感覚に対応した液晶ディスプレイのムラ定量化に関する一提案
- 5-8 液晶ディスプレイの輝度ムラ評価方法
- ACF接続における導電性粒子の変形問題に対する断面構造解析と数値解析
- 10-9 超高感度分析装置のマッピングデータの可視化
- 液晶ディスプレイのムラの定量評価手法の検討
- ノートパソコン・ヒンジのマイクロトライボロジー特性とその評価
- 透過型電子顕微鏡および有限要素法によるACF接続における導電性粒子変形のマイクロ・キャラクタリゼーション