森 由美 | 日本アイ・ピー・エム株式会社エンジニアリング&テクノロジーサービス
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概要
関連著者
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森 由美
日本アイ・ピー・エム株式会社エンジニアリング&テクノロジーサービス
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棚橋 高成
日本アイ・ビー・エム株式会社東京基礎研究所インダストリアルテクノロジー
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森 由美
日本アイ・ビー・エム(株)エンジニアリング&テクノロジーサービス
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森 由美
日本アイ・ビー・エム
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棚橋 高成
日本アイ・ビー・エム
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辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社大和事業所apto品質・プロセス
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辻 智
日本アイ・ビー・エム株式会社APTO品質
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辻 智
日本アイ・ビー・エム(株)
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森口 喜代
日本アイ・ビー・エム株式会社, 大和事業所, 人間工学
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吉武 良治
日本アイ・ビー・エム株式会社, 大和事業所, 人間工学
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吉武 良治
日本アイ・ビー・エム ユーザエクスペリエンス・デザインセ
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吉武 良治
日本アイビーエム
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吉武 良治
日本アイ・ビー・エム株式会社ユーザエクスペリエンス・デザインセンター
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辻 智
日本アイ・ビー・エム(株) ディスプレー・テクノロジー
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森口 喜代
日本アイ・ビー・エム株式会社ユーザエクスペリエンス・デザインセンター
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森口 喜代
日本アイ・ビー・エム
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中野 宏毅
日本アイ・ビー・エム(株)
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田村 徹
東京工芸大学工学部
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吉澤 徹
東京農工大学工学部
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田村 徹
東京工芸大学工学部メディア画像学科
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中野 宏毅
日本アイ・ビー・エム(株)エンジニアリング&テクノロジーサービス事業部
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田村 徹
東京工芸大
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森 由美
インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術
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棚橋 高成
インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術
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辻 智
インターナショナルディスプレイテクノロジー株式会社品質保証テクノロジー評価技術
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吉澤 徹
東京農工大学機械システム工学
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田村 徹
東京工芸大学工学部画像工学科
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高辻 博史
日本アイ・ビー・エム(株)
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森 由美
日本アイ ピーエム(株)
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棚橋 高成
日本アイ ピーエム(株)
著作論文
- 人間工学設計・評価に基づいた液晶ディスプレイの画像品位測定手法
- 認識限界コントラストに基づいた輝度ムラの定量化手法(ヒューマンインフォメーション)
- 10-9 超高感度分析装置のマッピングデータの可視化
- 液晶ディスプレイのムラの定量評価手法の検討
- 14-8 液晶ディスプレイのムラ評価のための測定手法
- 5-9 液晶ディスプレイのムラ抽出アルゴリズムと官能検査との関係
- 12-1 LCDパネルにおける画質の定量的評価に関する研究 第三報
- 9-2 LCDパネルにおける画質の定量的評価に関する研究第二報
- 18-8 LCDパネルにおける画質の定量的評価に関する研究
- ウェーブレット変換を用いた液晶ディスプレイのムラの定量評価手法