透過型電子顕微鏡および有限要素法によるACF接続における導電性粒子変形のマイクロ・キャラクタリゼーション
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- エレクトロニクス実装学会の論文
- 2001-10-18
著者
関連論文
- ノートパソコンのヒンジ
- 人間工学設計・評価に基づいた液晶ディスプレイの画像品位測定手法
- 認識限界コントラストに基づいた輝度ムラの定量化手法(ヒューマンインフォメーション)
- 人間の感覚に対応した液晶ディスプレイのムラ定量化に関する一提案
- フラットパネルディスプレイ検査の規格化を推進する意義と現実 (特集2 フラットパネル検査の最新動向)
- 5-8 液晶ディスプレイの輝度ムラ評価方法
- ACF接続における導電性粒子の変形問題に対する断面構造解析と数値解析
- 液晶ディスプレイの故障解析へのFIB/TEMの応用
- 10-9 超高感度分析装置のマッピングデータの可視化
- 液晶ディスプレイのムラの定量評価手法の検討
- 14-8 液晶ディスプレイのムラ評価のための測定手法
- 5-9 液晶ディスプレイのムラ抽出アルゴリズムと官能検査との関係
- 12-1 LCDパネルにおける画質の定量的評価に関する研究 第三報
- 9-2 LCDパネルにおける画質の定量的評価に関する研究第二報
- 18-8 LCDパネルにおける画質の定量的評価に関する研究
- ノートパソコン・ヒンジのマイクロトライボロジー特性とその評価
- 透過型電子顕微鏡および有限要素法によるACF接続における導電性粒子変形のマイクロ・キャラクタリゼーション
- ノートブックPC用高性能空冷放熱システムの開発
- ノートブックパソコンヒンジ部のトライボロジー
- 10-10 LCD輝度ムラ自動測定器の開発
- ノートパソコンにおけるトライボロジー
- 液晶ディスプレイの製造工程におけるFIB/TEMの活用
- LCD用Al配線上に発生したウィスカー, ヒロックの平面TEM観察
- マイクロマニピュレータを用いたTEM試料作製法の検討
- 江戸時代後期の木版画に使われた鉛丹の変色と化学組成の変化
- ガラス基板上のAl膜のストレスマイグレーションの制御
- FIB/TEM法を用いた江戸後期漆器の着色顔料の微細構造解析
- 断面 TEM 解析の液晶ディスプレイ実装技術への応用