10-10 LCD輝度ムラ自動測定器の開発
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概要
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Measured method for nonuniform brightness regions in Liquid Crystal Display (LCD) was discussed. Extraction of uniformity as the front of screen quality was successfully completed using developed algorithm. Its technology can be applicable to automatic inspection of display quality in LCD or PC manufacturing.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 2001-08-27
著者
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棚橋 高成
日本アイ・ビー・エム株式会社東京基礎研究所インダストリアルテクノロジー
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棚橋 高成
目本アイ・ビー・エム(株)東京基礎研究所
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高地 正夫
(有)ハイランド
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棚橋 高成
日本アイ・ビー・エム
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