高地 正夫 | (有)ハイランド
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概要
関連著者
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高地 正夫
(有)ハイランド
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棚橋 高成
目本アイ・ビー・エム(株)東京基礎研究所
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棚橋 高成
日本アイ・ビー・エム
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棚橋 高成
日本アイ・ビー・エム株式会社東京基礎研究所インダストリアルテクノロジー
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吉武 良治
日本アイビーエム
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吉武 良治
日本アイ・ビー・エム株式会社ユーザエクスペリエンス・デザインセンター
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竹之下 博敬
日本アイ・ビー・エム(株)エンジニアリング&テクノロジー・サービス
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竹之下 博敬
日本アイ・ビー・エム(株)エンジニアリング&テクノロジー・サービス
著作論文
- フラットパネルディスプレイ検査の規格化を推進する意義と現実 (特集2 フラットパネル検査の最新動向)
- ノートブックパソコンヒンジのトルクおよび感触の定量的測定手法
- LCD輝度ムラ自動測定器の開発
- ディスプレイ表示ムラにおける官能評価指標を用いた自動測定手法 (第8回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集) -- (S9. 外観検査)
- 座談会 LCDムラに取り組む (特集 液晶ディスプレイのムラに取り組む)
- 10-10 LCD輝度ムラ自動測定器の開発
- この開発者に聞く 「LCD輝度ムラ自動測定器」定性的な判定をいかに定量的に置き換えるか! (特集 2001年の映像情報技術)
- 輝度ムラ計測の課題と新解析システム (特集 鍵を握るバックライト技術)
- 輝度分布と輝度ムラ (特集 液晶ディスプレイのムラに取り組む)