<座談会>フラットパネルディスプレイ検査の規格化を推進する意義と現実 (特集2 フラットパネル検査の最新動向)
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概要
著者
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棚橋 高成
日本アイ・ビー・エム株式会社東京基礎研究所インダストリアルテクノロジー
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吉武 良治
日本アイビーエム
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吉武 良治
日本アイ・ビー・エム株式会社ユーザエクスペリエンス・デザインセンター
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高地 正夫
(有)ハイランド
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- LCD輝度ムラ自動測定器の開発
- ディスプレイ表示ムラにおける官能評価指標を用いた自動測定手法 (第8回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集) -- (S9. 外観検査)
- 座談会 LCDムラに取り組む (特集 液晶ディスプレイのムラに取り組む)
- 10-10 LCD輝度ムラ自動測定器の開発
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