加藤 直子 | 株式会社 アイテス半導体故障解析部

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概要

• 同名の論文著者
• 株式会社 アイテス半導体故障解析部の論文著者

関連著者

• 佐々木 勝寛

  名古屋大学工学部

• 坂 公恭

  名古屋大学工学部

• 加藤 直子

  株式会社アイテス品質技術部

• 坂 公恭

  名古屋大

• 佐々木 勝寛

  名古屋大学大学院工学研究科・量子工学専攻

• 坂 公恭

  名大・大学院

• 王 洲光

  財団法人ファインセラミックスセンター

• 王 洲光

  財団法人 ファインセラミックスセンター材料技術研究所

• 平山 司

  財団法人 ファインセラミックスセンター材料技術研究所

• 加藤 直子

  株式会社 アイテス半導体故障解析部

• 坂 公恭

  名古屋大学

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著作論文

• 電子線ホログラフィーと集束イオンビームを用いた電界効果トランジスタ(MOSFET)断面の2次元電位分布解析

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