二瓶 好正 | 東京理科大学総合研究機構

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概要

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• 同名の論文著者
• 東京理科大学総合研究機構の論文著者

関連著者

• 二瓶 好正

  東京理科大学総合研究機構

• 二瓶 好正

  東京大学生産技術研究所

• 二瓶 好正

  東京理科大学

• 冨安 文武乃進

  東京大学環境安全研究センター

• 石井 秀司

  京都大学大学院工学研究科材料工学専攻:(現)(株)イオン工学研究所

• 尾張 真則

  東京大学環境安全研究センター

• 冨安 文武乃進

  東京大学生産技術研究所

• 石井 秀司

  東京大学 生産技術研究所

• 尾張 真則

  東京大学生産技術研究所

• 大森 真二

  ソニー株式会社セミコンダクタネットワークカンパニー LSIテクノロジー開発部門 リソグラフィ技術部

• Nihei Yoshimasa

  Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo

• Kudo M

  Hitachi Ltd. Tokyo Jpn

• KUDO Masahiro

  Institute of Industrial Science, University of Tokyo

• NIHEI Yoshimasa

  Institute of Industrial Science, University of Tokyo

• 大森 真二

  東大生研

• 二瓶 好正

  東大生研

• 石井 秀司

  東大生研

• Kudo Masahiro

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• 石井 秀司

  東京大学生産技術研究所

• Kamada Hitoshi

  Faculty Of Engineering Yamagata University

• Kamada Hitoshi

  Department Of Industrial Chemistry Faculty Of Engineering University Of Tokyo

• Kamada H

  Yamagata Technopolis Foudation Yamagata

• KAMADA Hitoshi

  Faculty of Engineering, Yamagata University

• 坂本 哲夫

  東京大学環境安全研究センター

• 野島 雅

  東京理科大学総合研究機構

• 白木 将

  東京大学生産技術研究所

• 坂本 哲夫

  東京大学生産技術研究所

• 白木 將

  理化学研究所

• 大島 忠平

  早稲田大学理工学部応用物理学科

• 大島 忠平

  無機材研

• 大島 忠平

  早稲田大学 各務記念材料技術研究所

• 大島 忠平

  早稲田大学理工学部

• 坂本 哲夫

  東大 環境安全研セ

• KAMADA Hitoshi

  Department of Industrial Chemistry, Faculty of Engineering, University of Tokyo

• 大島 忠平

  早稲田大学

• Kamada Hitoshi

  Department Of Chemical Industry Faculty Of Engineering University Of Tokyo

• Owari Masanori

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• 中野 智

  東京理科大学理工学部工業化学科

• 鈴木 健一郎

  東京理科大学薬学研究科

• SAKAMOTO Tetsuo

  Institute of Industrial Science, The University of Tokyo

• Sakamoto Toshitugu

  Faculty Of Engineering Science Osaka University

• Shiokawa Takao

  Semiconductor Laboratory Riken The Institute For Physical And Chemical Research

• Owari Masanori

  Environmental Science Center The University Of Tokyo

• Sakamoto T

  Department Of Communication Engineering Faculty Of Computer Science And System Engineering Okayama P

• 鈴木 健一郎

  東京理科大学ナノ粒子健康科学研究センター

• 田村 圭司

  大阪府立大学大学院工学研究科電子物理工学

• 佐藤 仁美

  (現)(株)日立製作所那珂工場

• 二瓶 好正

  東京理科大学理工学研究科

• 野島 雅

  東京大学生産技術研究所

• 程 朝暉

  東京大学生産技術研究所

• 高橋 正典

  東京大学生産技術研究所

• 倉本 靖之

  東京大学生産技術研究所

• 白木 將

  理化学研究所表面化学研究室

• 中島 健

  早稲田大学理工学部応用物理学科

• 田村 圭司

  東京大学生産技術研究所

• OWARI Masanori

  Department of Industrial Chemistry, Faculty of Engineering, University of Tokyo

• 瀧井 貴紀

  東京理科大学理工学部工業化学科

• 劉 国林

  沖電気工業株式会社電子デバイス事業本部

• Kudo Masahiro

  Department Of Materials And Life Science Seikei University

• 鈴木 敬紀

  東大生研

• Kudo Masahiro

  Department Of Applied Physics The University Of Tokyo

• Kudo Masahiro

  Department Of Applied Physics Faculty Of Engineereing Seikei University

• 越川 孝範

  大阪電通大

• 星加 安之

  信州大学医学部衛生学教室

• 三浦 大介

  早稲田大学理工学部応用物理学科

• 野中 秀彦

  産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門

• 一村 信吾

  産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門

• 岩井 秀夫

  アルバック・ファイ株式会社

• 岡野 達雄

  東京大学生産技術研究所

• 岩井 秀夫

  アルバック・ファイ株式会社技術本部商品開発室

• 西口 哲也

  株式会社 明電舎

• 山本 あずさ

  東京理科大学理工学研究科

• 永井 一聡

  東京大学環境安全研究センター

• 神田 雄介

  東京大学生産技術研究所

• 戸井 雅之

  東京大学生産技術研究所

• 神宮 信康

  埼玉工業大学環境工学部

• 石川 剛

  早稲田大学理工学部応用物理学科

• 後藤 正博

  早稲田大学理工学部応用物理学科

• 志水 隆一

  大阪工業大学情報科学部

• 志水 隆一

  大阪工業大学

• 柴田 達也

  東京大学生産技術研究所

• 稲見 晃宏

  東京大学生産技術研究所

• 山村 健太

  早稲田大学理工学部応用物理学科

• 一村 信吾

  産業技術総合研究所

• 一村 信吾

  産業技術総合研

• 鈴木 周一

  埼玉工業大学工学部環境工学科

• Koshizaki Naoto

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• 佐藤 陽亮

  東京理科大学理工学部

• 劉 国林

  東京大学生産技術研究所

• 迫 雄二

  埼玉工業大学環境工学科

• 江川 一

  埼玉工業大学環境工学科

• 武藤 義一

  埼玉工業大学工学部環境工学科

• 一村 信吾

  工業技術院電子技術総合研究所 極阪技術部

• 藤井 麻樹子

  東京理科大学理工学部工業化学科:東京大学生産技術研究所

• 田口 雅美

  アルバック・ファイ株式会社 技術部

• 田口 雅美

  アルバックファイ

• Kamada Hitoshi

  Institute For Life Suppport Technology Yamagata Technopolis Foundation

• 武蔵 義一

  埼玉工業大学

• 武藤 義一

  埼玉工業大学

• OWARI Masanori

  Environmental Science Center, The University of Tokyo

• 西口 哲也

  株式会社明電舎

• 佐藤 基和

  東京理科大学理工学部工業化学科

• 津崎 希

  東京理科大学理工学研究科

• 大崎 真由子

  東京大学生産技術研究所

• 富安 文武乃進

  東京大学環境安全研究センター

• 吉沢 美由紀

  東京理科大学理工学部工業化学科

• 平野 雅子

  東京理科大学理工学部工業化学科

• 小倉 郁史

  東京大学生産技術研究所

• 竹内 勇人

  東京大学生産技術研究所

• 柴田 俊男

  東京大学生産技術研究所

• 逆瀬 川聡

  東京大学生産技術研究所

• 鳥羽 貴光

  東京大学生産技術研究所

• 荒井 直昭

  東京大学生産技術研究所

• 小山 英樹

  東京大学生産技術研究所

• 阿部 雅一

  東京大学生産技術研究所

• 鈴木 篤史

  東京大学生産技術研究所

• 橋本 明奈

  東京理科大学大学院理工学研究科工業化学専攻

• 石崎 泰裕

  東京理科大学理工学部工業化学科

• 酒井 俊史

  東京理科大学理工学部工業化学科

• YAMAMOTO Azusa

  Faculty of Science and Engineering, Tokyo University of Science

• NIHEI Yoshimasa

  Faculty of Science and Engineering, Tokyo University of Science

• 中村 仁

  東京理科大学理工学部

• 天野 幹也

  東京大学生産技術研究所

• 田村 理恵

  東京大学生産技術研究所

• 堂井 真

  理学電機

• 塚本 勝美

  理学電機

• 大森 真二

  東京大学生産技術研究所

• Kamada Hitoshi

  Institute For Life Support Technology

• 小堺 智一

  セイコーインスツルメンツ

• 小堺 智一

  東大生研

• 二瓶 好正

  東京理科大学理工学部

• 二瓶 好正

  東京理科大学理工学部 日本分析化学会

• Nihei Yoshimasa

  Faculty Of Industrial Science And Technology Tokyo University Of Science

• 劉 国林

  沖電気工業(株)超lsi研究開発センタ

• 石崎 泰裕

  東京理科大学理工学部工業化学科:東京大学生産技術研究所

• 野中 秀彦

  産業技術総合研究所

• 後藤 誠

  埼玉工業大学

• Gohshi Yohichi

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• 鈴木 周一

  埼玉工業大学副学長

• Yamamoto Azusa

  Faculty Of Industrial Science And Technology Tokyo University Of Science

• Yamamoto Azusa

  Faculty Of Science And Engineering Tokyo University Of Science

• 福田 昭浩

  埼玉工業大学

• Sekino Y

  Gunma Univ. School Of Medicine Maebashi Jpn

• Sekino Yuko

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• 大岩 直登

  埼玉工業大学

• 鈴木 周一

  埼玉工大

• 塚本 勝美

  リガク

• CHENG Zhaohui

  Institute of Industrial Science, the University of Tokyo

• TAKAHASHI Masanori

  Institute of Industrial Science, the University of Tokyo

• 神田 雄介

  東京大学生産技術研究所:東京理科大学理工学部

• Cheng Z

  Tsinghua Univ. Beijing Chn

• 水野 薫

  東京大学生産技術研究所

• 中村 仁

  東京理科大学理工学部:東京大学生産技術研究所

• Takahashi Masanori

  Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo

• 戸井 雅之

  東京大学生産技術研究所:東京理科大学理工学部

• 岩井 秀夫

  アルバック・ファイ(株)

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著作論文

• X線光電子回折法(XPED)を用いた固相-固相界面のキャラクタリゼ-ションに関する研究
• 超臨界流体抽出法における環境汚染有機化合物の抽出特性の解析
• ナノビーム二次イオン質量分析装置の試作と評価
• FIBを用いた三次元組成分析
• ガリウム収束イオンビーム励起オージェ電子を用いる微小領域の元素マッピッング
• イオン・電子デュアル収束ビームを用いる三次元局所分析法の開発
• 電子プローブマイクロアナリシス法及び二次イオン質量分析法による大気浮遊粒子状物質の同一粒子分析(質量分析法の応用技術)
• ガリウム収束イオンビームを用いたサブミクロン二次イオン質量分析装置による無機マイクロカプセルの三次元分析(表面・界面・薄膜と分析化学)
• 収束イオンビ-ムとマルチチャネル並列検出系を用いたサブミクロンSIMS
• 光電子スペクトロホログラフィー法の開発 : 固体表面の三次元原子配列を観るために
• 大立体角電子エネルギー分析器の試作
• X線マイクロアナライザーによる粒別分析とクラスター分析に基づ
• Structural and Chemical State Analysis of the Heat-Treated Au/GaSb(110) Interface by Means of Angle-Resolved X-Ray Photoelectron Spectroscopy (ARXPS)
• 電子線マイクロアナリシス法による都市大気環境中の超微小粒子の粒別分析
• 室内環境中PM_の電子線マイクロアナリシス法によるキャラクタリゼーション(「若手研究者の初論文」)
• 自動車排ガス浄化触媒を起源とする大気環境希少微粒子の迅速検出法の開発
• 都市大気環境中PM_の起源解析を用いるディーゼル排気微粒子汚染の評価(若手研究者の初論文特集)
• 市街地沿道大気中のPM_の粒別分析
• 大気中におけるディーゼル排気すす微粒子と鉄道起源粒子との複合粒子の検索並びに同定
• ディーゼル排気微粒子などを含む大気環境微粒子のキャラクタリゼーション法の開発
• ナノスケールFIB SIMS装置の試作
• 破壊的局所分析法の多元素同時測定による定量精度の向上
• サブミクロンSIMS法におけるshave-off深さ方向分解能の向上
• サブミクロン二次イオン質量分析装置を用いるチタン添加極低炭素鋼中の非金属介在物粒子のキャラクタリゼーション(質量分析法の応用技術)
• 電子線マイクロアナライザーを用いた地下街浮遊粒子状物質の粒別起源解析
• 集束イオンビームを用いた固体材料の3次元局所分析
• サブミクロン二次イオン質量分析装置を用いた鋼中非金属介在物粒子の粒別分析
• 強力二色X線源の開発
• Shave-off深さ方向分析法におけるメモリー効果の低減
• X線光電子回折の現状と将来
• Supercritical Fluid Clean-Up of Environmental Samples for the Analysis of Polycyclic Aromatic Hydrocarbons Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
• 大立体角電子エネルギー分析器の試作(II)
• 単分子吸着したNi(111)表面のCr-Lα, Al-Kα線光電子回折における光源依存性
• 回折面アパーチャを用いた X 線光電子回折パターンの高角度分解能測定
• 光電子スペクトロホログラフィー装置の開発
• 光電子スペクトロホログラフィー
• 高濃度オゾンガスの局所リアルタイム濃度測定法の開発
• 28pXC-3 光電子回折/ホログラフィ測定の高精度化と個体表面解析
• エネルギー・角度同時検出の新型アナライザーを用いた オージェ電子回折測定
• 28p-S-15 Ge(111)-e(2×8)上へのCuの成長初期過程のX線光電子回折による研究
• 26a-YR-10 X線光電子回折法を用いたCu/Ge(111)の研究
• 31a-PS-7 超薄膜からの光電子回折パターン中のホログラフィック干渉環の研究
• 7a-PS-53 X線光電子回折における菊池バンドをもちいた結晶構造因子の決定
• 29p-T-13 電子線回折と異なる光電子回折における菊池バンドの消滅則
• 29a-PS-30 Ge(111)-c(2×8)上に成長させたSrF_2超薄膜の光電子回折による構造解析
• CaF_2-硫黄処理InP(100)界面の硫黄層からの光電子回折
• 3p-J-7 光電子回折法による S/InP(100)及びその上に成長した CaF_2薄膜の構造解析
• 科学と技術の国際競争力
• 社団法人日本表面科学会の発足を祝って
• 研究速報 : X線光電子回折法によるイオン衝撃損傷の温度依存性の解析
• 未来に向けての前進計画
• 石炭フライアッシュの粒別組成の分布解析
• 2次元エネルギ-分析器 (マイクロチャネルプレ-トを利用した表面研究技術(技術ノ-ト))
• Estimation of Low-Energy Ion Bombardment Damage on GaAs(001) Surface by X-Ray Photoelectron Diffraction
• Experimental and Theoretical Two-Dimensional X-Ray Photoelectron Diffraction Patterns from GaAs(001) Surface
• Direct Atomic Site Determination of Foreign Atoms in a Crystal Surface Layer by X-Ray Photoelectron Diffraction
• Estimation of Surface Crystal Regularity by Utilizing X-Ray Photoelectron Diffraction (XPED) Effects
• Quantitative XPS Measurement on the Surfaces of GaP, GaSb and ZnSe Single Crystals
• Quantitative X-Ray Photoelectron Spectroscopic (XPS) Measurement on the Surfaces of GaAs(111), (111) and (110) Single Crystals : Determination of Relative Photo-Auger Ionization Cross Sections and Electron Mean Free Paths by Using the Crystal Regularity o
• Angular Denendence of XPS Intensities from GaAs (110) Surface : PHOTOEMISSION (MAINLY UPS AND XPS)
• Development of an Ion and Electron Dual Focused Beam Apparatus for Three-Dimensional Microanalysis
• Behavior of Gallium Secondary Ion Intensity in Gallium Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry
• イヌ鼻腔内組織のX線マイクロアナライザー(EPMA)測定例
• 大気浮遊粒子状物質の起源解析 (地球環境と計測化学) -- (都市圏環境の計測)
• X線光電子回折パターン測定のための電子角度分布像直視システムの試作

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