研究速報 : X線光電子回折法によるイオン衝撃損傷の温度依存性の解析
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概要
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- 東京大学生産技術研究所,Institute of Industrial Science, the University of Tokyo,徳山曹達（株）技術研究所,東京大学生産技術研究所第4部 物質情報工学の論文
- 1988-03-01
著者
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