Quantitative X-Ray Photoelectron Spectroscopic (XPS) Measurement on the Surfaces of GaAs(111), (111) and (110) Single Crystals : Determination of Relative Photo-Auger Ionization Cross Sections and Electron Mean Free Paths by Using the Crystal Regularity o
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概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人応用物理学会の論文
- 1978-05-05
著者
-
二瓶 好正
東京理科大学総合研究機構
-
Kudo M
Hitachi Ltd. Tokyo Jpn
-
Kamada Hitoshi
Faculty Of Engineering Yamagata University
-
KUDO Masahiro
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
-
NIHEI Yoshimasa
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
-
KAMADA Hitoshi
Department of Industrial Chemistry, Faculty of Engineering, University of Tokyo
-
Kudo Masahiro
Department Of Materials And Life Science Seikei University
-
Nihei Yoshimasa
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo
-
Kamada Hitoshi
Department Of Industrial Chemistry Faculty Of Engineering University Of Tokyo
-
Kamada Hitoshi
Department Of Chemical Industry Faculty Of Engineering University Of Tokyo
-
Kudo Masahiro
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
-
Kamada H
Yamagata Technopolis Foudation Yamagata
-
Kudo Masahiro
Department Of Applied Physics The University Of Tokyo
-
Kudo Masahiro
Department Of Applied Physics Faculty Of Engineereing Seikei University
-
KAMADA Hitoshi
Faculty of Engineering, Yamagata University
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