X線光電子回折パターン測定のための電子角度分布像直視システムの試作
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- X線光電子回折法(XPED)を用いた固相-固相界面のキャラクタリゼ-ションに関する研究
- 超臨界流体抽出法における環境汚染有機化合物の抽出特性の解析
- ナノビーム二次イオン質量分析装置の試作と評価
- FIBを用いた三次元組成分析
- ガリウム収束イオンビーム励起オージェ電子を用いる微小領域の元素マッピッング
- イオン・電子デュアル収束ビームを用いる三次元局所分析法の開発
- 電子プローブマイクロアナリシス法及び二次イオン質量分析法による大気浮遊粒子状物質の同一粒子分析(質量分析法の応用技術)
- ガリウム収束イオンビームを用いたサブミクロン二次イオン質量分析装置による無機マイクロカプセルの三次元分析(表面・界面・薄膜と分析化学)
- 収束イオンビ-ムとマルチチャネル並列検出系を用いたサブミクロンSIMS
- メタノール中の通電により生成するダイヤモンドライクカーボン(DLC)を被覆した単一タングステン電界放射陰極からの電子放射特性