パラジウム単結晶の蛍光X線極角依存性測定の試み
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概要
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蛍光X線ホログラフィーは, 結晶から放射される蛍光X線の干渉パターンから結晶原子像を三次元的に再生する構造解析手法である. しかし蛍光X線の干渉強度が極めて低いために, 蛍光X線スペクトルの角度異方性の有無を含め, スペクトル測定の基本的な事柄に関して明らかになっていない点が多い. そこで本実験では, バックグラウンドの変動よりも微弱な強度しか示さない蛍光X線スペクトルの極角依存性に着目し, pd(1 0 0)単結晶の蛍光X線極角依存性を測定した. その結果, バックグラウンドの変動によって, 観測できないような微弱な信号を観測することができ, 蛍光X線強度の角度異方性を示唆する結果が得られた.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 2001-06-05
著者
-
二瓶 好正
東京大学生産技術研究所
-
大森 真二
ソニー株式会社セミコンダクタネットワークカンパニー LSIテクノロジー開発部門 リソグラフィ技術部
-
大森 真二
東京大学生産技術研究所
-
原田 真吾
京都大学工学院工学研究科材料工学専攻
-
鈴木 貴史
京都大学工学院工学研究科材料工学専攻
-
杉村 哲郎
京都大学工学院工学研究科材料工学専攻
-
河合 潤
京都大学工学院工学研究科材料工学専攻
-
河合 潤
京都大学工学研究科材料工学専攻
-
二瓶 好正
東京大学生産技術研究所:(現)東京大学生産技術研究所
-
河合 潤
京都大学工学研究科教授
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