表面科学会の今日と明日
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2000-08-10
著者
関連論文
- ナノビーム二次イオン質量分析装置の試作と評価
- FIBを用いた三次元組成分析
- ガリウム収束イオンビーム励起オージェ電子を用いる微小領域の元素マッピッング
- イオン・電子デュアル収束ビームを用いる三次元局所分析法の開発
- 電子プローブマイクロアナリシス法及び二次イオン質量分析法による大気浮遊粒子状物質の同一粒子分析(質量分析法の応用技術)
- ガリウム収束イオンビームを用いたサブミクロン二次イオン質量分析装置による無機マイクロカプセルの三次元分析(表面・界面・薄膜と分析化学)
- 大立体角電子エネルギー分析器の試作
- 1998年度日本分析化学会学会賞を受賞される 鎌田薩男氏
- 蛍光X線ホログラフィー
- X線マイクロアナライザーによる粒別分析とクラスター分析に基づ
- 大気圧イオン化質量分析法による室内空気中微量アセトンの定量
- ディーゼル排気微粒子などを含む大気環境微粒子のキャラクタリゼーション法の開発
- ナノスケールFIB SIMS装置の試作
- 破壊的局所分析法の多元素同時測定による定量精度の向上
- サブミクロンSIMS法におけるshave-off深さ方向分解能の向上
- サブミクロン二次イオン質量分析装置を用いるチタン添加極低炭素鋼中の非金属介在物粒子のキャラクタリゼーション(質量分析法の応用技術)
- 電子線マイクロアナライザーを用いた地下街浮遊粒子状物質の粒別起源解析
- 集束イオンビームを用いた固体材料の3次元局所分析
- サブミクロン二次イオン質量分析装置を用いた鋼中非金属介在物粒子の粒別分析
- 28pXC-3 光電子回折/ホログラフィ測定の高精度化と個体表面解析
- エネルギー・角度同時検出の新型アナライザーを用いた オージェ電子回折測定
- パラジウム単結晶の蛍光X線極角依存性測定の試み
- 飛行時間型二次イオン質量分析法による磁気ディスク潤滑膜/炭素膜界面の構造状態評価
- 液相化学ラベル化法を用いたX線光電子分光法によるポリブタジエン表面官能基の定量的検討
- 石炭フライアッシュの粒別組成の分布解析
- 電気化学会誌21世紀特集号によせて
- 表面科学会の今日と明日
- 光電子スペクトロホログラフィー
- 20世紀-分析機器は何を実現したか
- II ノーベル賞, その分析法への展開 ESCAの発明
- 表面科学会が何故必要か?
- フミン酸と疎水性化合物との相互作用
- 「分析化学」誌にご注目下さい
- いま求められる分析化学教育とは
- 日本分析化学会第40年会報告 - 創立40周年記念大会を顧みて -
- 日本学術振興会マイクロビームアナリシス第 141 委員会(部会・委員会活動報告)(分析評価・解析)
- イヌ鼻腔内組織のX線マイクロアナライザー(EPMA)測定例
- 「表面と分光学」 : 第1講総論固体表面のキャラクタリゼーションと分光学
- X線光電子回折パターン測定のための電子角度分布像直視システムの試作
- 高性能角度分解X線光電子分光装置による光電子回折効果の測定