Behavior of Gallium Secondary Ion Intensity in Gallium Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 1997-03-15
著者
-
二瓶 好正
東京理科大学総合研究機構
-
SAKAMOTO Tetsuo
Institute of Industrial Science, The University of Tokyo
-
Nihei Yoshimasa
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo
-
Sakamoto Toshitugu
Faculty Of Engineering Science Osaka University
-
Shiokawa Takao
Semiconductor Laboratory Riken The Institute For Physical And Chemical Research
-
Owari Masanori
Environmental Science Center The University Of Tokyo
-
Sakamoto T
Department Of Communication Engineering Faculty Of Computer Science And System Engineering Okayama P
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