Estimation of Surface Crystal Regularity by Utilizing X-Ray Photoelectron Diffraction (XPED) Effects
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 1980-06-05
著者
-
二瓶 好正
東京理科大学総合研究機構
-
Kudo M
Hitachi Ltd. Tokyo Jpn
-
Kamada Hitoshi
Faculty Of Engineering Yamagata University
-
KUDO Masahiro
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
-
OWARI Masanori
Department of Industrial Chemistry, Faculty of Engineering, University of Tokyo
-
NIHEI Yoshimasa
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
-
KAMADA Hitoshi
Department of Industrial Chemistry, Faculty of Engineering, University of Tokyo
-
Nihei Yoshimasa
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo
-
Kamada Hitoshi
Department Of Industrial Chemistry Faculty Of Engineering University Of Tokyo
-
Kamada Hitoshi
Department Of Chemical Industry Faculty Of Engineering University Of Tokyo
-
Kudo Masahiro
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
-
Kamada H
Yamagata Technopolis Foudation Yamagata
-
KAMADA Hitoshi
Faculty of Engineering, Yamagata University
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