メタノール中の通電により生成するダイヤモンドライクカーボン(DLC)を被覆した単一タングステン電界放射陰極からの電子放射特性
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
A film formed by electro-deposition in methanol was successfully grown on single tungsten field emission tip. Carbon clusters containing hydrogen were detected from the coated tip by femto-second laser atom-probe. It was found that electrons which were needed to capture one carbon atom into the film were an order of 5. Emission current vs. voltage characteristic from the protrusion at the apex of the covered tip obeyed Fowler-Nordheim relationship, and gave work function about 4.1 eV. Good short-term stability in emission current was observed.
- 日本真空協会の論文
- 2009-03-20
著者
-
尾張 真則
東京大学生産技術研究所
-
吉本 智巳
東洋大学工学部電子情報工学科
-
岩田 達夫
東京大学生産技術研究所
-
吉田 寛之
東京大学生産技術研究所
-
森田 能弘
東京大学生産技術研究所
-
三上 素直
東京大学生産技術研究所
-
間山 憲仁
東京大学生産技術研究所
関連論文
- 窒化ホウ素微粒子からの電界放射(デバイス技術)
- ナノビーム二次イオン質量分析装置の試作と評価
- メタノール中の通電により生成するダイヤモンドライクカーボン(DLC)を被覆した単一タングステン電界放射陰極からの電子放射特性
- カーボンナノチューブを含むポリテトラフルオロエチレン(PTFE)薄膜からの電界電子放射
- 炭素系硬質膜で被覆された陰極からの電子放射機構
- p型GaAs陰極からの電界放射特性の熱処理による変化
- 通常カリキュラムの実験時間内で実習可能な半導体デバイスプロセスの工夫
- ウエットエッチング法によって作製したp型GaAs陰極からの電界放射特性
- 東海大学付属第四高校生が北海道東海大学の授業科目に対して持つイメージの調査
- Fowler-Nordheim プロットの勾配の連続的検出法の開発と熱脱離スペクトル検出への応用
- 集束イオンビームプロセスを用いて製作したSiエミッタの電界放射特性
- Si基板上に製作したAu/n-Geショットキー障壁ダイオードの電気的特性
- 集束イオンビームを用いた探針加工の研究
- Siトンネルエミッタトランジスタ(Si MIS TET)の電気的特性と高速動作性に関する検討
- 学生実習向けに簡単化された半導体デバイス製作プロセス
- 「集積回路の実験(1)(2)」実施報告
- LB膜形成法によるグルコース電極の試作
- Si MISトンネル・エミッタ・トランジスタ(Si MIS TET)の電気的特性
- GaAs 反転ベース層バイポーラトランジスタの電気的特性
- 光電子スペクトロホログラフィー法の開発 : 固体表面の三次元原子配列を観るために
- アトムプローブ法によるメタノール中の通電により金属基材上に堆積した炭素系被膜の分析
- 小型Mottスピン分析器のSP-SEMへの応用
- 小型Mottスピン分析器のSP-SEMへの応用
- 高電界下で加熱されたRe電界放射陰極の変形
- 小型Mottスピン分析器の開発
- 集束イオンビームの深針加工への応用
- 電界放射電流の時間変化を利用した超高真空領域の圧力の連続的表示法
- X線マイクロアナライザーによる粒別分析とクラスター分析に基づ
- 自動車排ガス浄化触媒を起源とする大気環境希少微粒子の迅速検出法の開発
- サブミクロンSIMS法におけるshave-off深さ方向分解能の向上
- 強力二色X線源の開発
- Shave-off深さ方向分析法におけるメモリー効果の低減
- 単分子吸着したNi(111)表面のCr-Lα, Al-Kα線光電子回折における光源依存性
- 石炭フライアッシュの粒別組成の分布解析
- アントワープ大学に滞在して
- X線光電子回折パターン測定のための電子角度分布像直視システムの試作
- 高分解能飛行時間型二次イオン質量分析法を用いた微粒子粒別起源解析法の開発
- 高性能角度分解X線光電子分光装置による光電子回折効果の測定