小型Mottスピン分析器のSP-SEMへの応用
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概要
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A spin-polarized scanning electron microscope (SP-SEM) with a retarding-type Mott analyzer was developed. For SP-SEM applications, we improved the figureof merit of the polarimeter, which had been developed in our laboratory, and employed a newly designed secondary electron collector. To avoid the magnetic stray field generated by the magnetic objective lens, a magnetic shield whose shape was designed by means of the finite element method was attached to the lens, Using the SP-SEM system, we observed poin-dependent SEM images of the domain structure of a single Fe crystal (001) surface, and typically observed spin polarization of secondary electrons of about ±14%.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 1998-04-15
著者
-
岩田 達夫
北海道東海大学大学院 理工学研究科 電子情報工学専攻
-
武笠 幸一
北海道大学創成科学共同研究機構
-
末岡 和久
北海道大学大学院情報科学研究科
-
岩田 達夫
東京大学生産技術研究所
-
倉岡 義孝
北海道大学工学部
-
相原 龍三
(株)エイコー・エンジニアリング
-
早川 和延
北海道大学触媒化学研究センター
-
早川 和延
北海道科学技術振興センター
-
武笠 幸一
北海道大学 大学院工学研究科 ナノエレクトロニクス分野
-
末岡 和久
Hokkaido Univ. Sapporo Jpn
-
末岡 和久
北海道大学大学院工学研究科ナノエレクトロニクス分野
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