プローブ顕微鏡によるスピン計測(特別ワークショップ : スピンエレクトロニクスとその応用)
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概要
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原子分子分解で磁性体表面の磁気構造を観察する顕微鏡として、走査型トンネル顕微鏡を応用したスピン偏極走査型トンネル顕微鏡(Spin-Polarized Scanning Tunneling Microscopy:SP-STM)、非接触原子間力顕微鏡を応用した交換相互作用力顕微鏡(Exchange Force Microscopy:EFM)がある。本稿では著者らがこれまでに開発を目指してきた、光励起半導体スピンプロープを用いたSP-STM、強磁性体薄膜を探針にしたEFMの実験結果について述べ、プローブ顕微鏡によるスピン計測の可能性について議論する。
- 2003-03-10
著者
-
武笠 幸一
北海道大学創成科学共同研究機構
-
末岡 和久
北海道大学大学院情報科学研究科
-
武笠 幸一
北大工
-
武笠 幸一
北海道大学 大学院工学研究科 ナノエレクトロニクス分野
-
末岡 和久
Hokkaido Univ. Sapporo Jpn
-
Sueoka Kazuhisa
Nanoelectronics Laboratory Graduate School Of Engineering Hokkaido University
-
末岡 和久
北海道大学大学院工学研究科ナノエレクトロニクス分野
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