劉 国林 | 沖電気工業(株)超lsi研究開発センタ

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関連著者

• 劉 国林

  沖電気工業株式会社電子デバイス事業本部

• 劉 国林

  沖電気工業(株)超lsi研究開発センタ

• 内田 英次

  沖電気工業(株)超LSI研究開発センタ

• 平下 紀夫

  沖電気工業(株)超LSI研究開発センタ

• 平下 紀夫

  沖電気工業株式会社超lsi研究セソタ

• 黒田 茂樹

  沖電気工業(株)超LSI研究開発センタ

• 黒田 茂樹

  沖電気工業

• 平下 紀夫

  沖電気工業 (株) 超LSI開発センタ

• 尾張 真則

  東京大学環境安全研究センター

• 冨安 文武乃進

  東京大学環境安全研究センター

• 二瓶 好正

  東京大学生産技術研究所

• 冨安 文武乃進

  東京大学生産技術研究所

• 西 謙二

  近畿大工業高専

• 二瓶 好正

  東京理科大学総合研究機構

• 福田 浩一

  沖電気工業株式会社

• 林 洋一

  沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニー 研究本部

• 西 謙二

  沖電気工業株式会社超LSI研究開発センタ

• 荒井 直昭

  東京大学生産技術研究所

• 小山 英樹

  東京大学生産技術研究所

• 甲斐 和彦

  沖電気工業(株)超LSI研究開発センタ

• 林 洋一

  沖電気工業株式会社

• 合川 泉

  沖電気工業超LSI研究開発センタ

• 池田 聰

  沖電気工業超Lセンタ

• 奥野 泰幸

  沖電気工業プロ技センタ

• 黒田 茂樹

  沖電気工業超lsi研究開発センタ

• 林 洋一

  沖電気工業

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著作論文

• 電子線マイクロアナライザーを用いた地下街浮遊粒子状物質の粒別起源解析
• インバースモデリング技術を用いたMOSFETチャネルプロファイル抽出法の検討
• 内標準法に基づく浅いドーパントプロファイルの高精度SIMS測定
• AESによるサブミクロンビアホール内微小領域分析法の検討

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