田口 雅美 | アルバックファイ

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概要

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関連著者

• 田口 雅美

  アルバックファイ

• 田口 雅美

  アルバック・ファイ株式会社 技術部

• 小林 力

  アルバック・ファイ(株)技術部

• 小林 力

  アルバック・ファイ株式会社 技術部

• 小林 力

  アルバック・ファイ

• 石井 秀司

  京都大学大学院工学研究科材料工学専攻:(現)(株)イオン工学研究所

• 越川 孝範

  大阪電通大

• 大岩 烈

  アルバック・ファイ株式会社

• 岡野 達雄

  東京大学生産技術研究所

• 大島 忠平

  早稲田大学理工学部応用物理学科

• 田村 圭司

  大阪府立大学大学院工学研究科電子物理工学

• 白木 将

  東京大学生産技術研究所

• 尾張 真則

  東京大学環境安全研究センター

• 大島 忠平

  無機材研

• 大島 忠平

  早稲田大学 各務記念材料技術研究所

• 大島 忠平

  早稲田大学理工学部

• 二瓶 好正

  東京理科大学総合研究機構

• 石井 秀司

  東京大学生産技術研究所

• 二瓶 好正

  東京理科大学

• 志水 隆一

  大阪工業大学情報科学部

• 志水 隆一

  大阪工業大学

• 田村 圭司

  東京大学生産技術研究所

• 石井 秀司

  東京大学 生産技術研究所

• 天野 幹也

  東京大学生産技術研究所

• 田村 理恵

  東京大学生産技術研究所

• 堂井 真

  理学電機

• 塚本 勝美

  理学電機

• 大島 忠平

  早稲田大学

• 白木 將

  理化学研究所

• 田口 雅美

  アルパック・ファイ(株)技術開発室

• 塚本 勝美

  リガク

• 渡邉 勝己

  アルバック・ファイ株式会社・技術部

• 大岩 烈

  アルバック・ファイ(株)

• 田口 雅美

  アルバック・ファイ株式会社ナノテクノロジー事業部

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著作論文

• 超高真空温度可変走査プローブ顕微鏡による材料評価技術
• SNOM UND AFM
• 回折面アパーチャを用いた X 線光電子回折パターンの高角度分解能測定
• NC-AFM を用いたセラミックスおよび誘電体の観察
• 放射光光源を利用したX線光電子顕微鏡(XPEEM)の進展
• 表面分析の基礎知識 走査型トンネル顕微鏡
• X線光電子顕微鏡の応用と可能性
• LEEM/PEEM装置の製品紹介

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