境 悠治 | 日本電子(株)
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概要
関連著者
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境 悠治
日本電子(株)
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後藤 敬典
名古屋工業大学
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境 悠治
日本電子
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市ノ川 竹男
早稲田大学 理工学部
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原田 義也
千葉大工
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市ノ川 竹男
Department Of Applied Physics Waseda University
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増田 茂
東大院総合文化
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上野 信雄
千葉大工
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市ノ川 竹男
早大理工
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嘉藤 誠
日本電子株式会社
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上田 一之
豊田工業大学 ナノハイテクリサーチセンター
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上田 一之
豊田工
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重川 秀実
筑波大物質工
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境 悠治
日本電子(株)電子光学機器技術本部研究開発部saグル一プ
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白石 賢二
NTT基礎研
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関 一彦
名大物質研・院理
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多田 博一
京大工
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磯部 徹彦
慶大理工
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一村 信吾
電総研
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磯兼 雄一郎
名工大
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磯兼 雄一郎
名工大工
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安福 秀幸
千葉大工
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後藤 敬典
名古屋工業大学生産システム工学科
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榊原 伸義
日本電装(株)基礎研究所
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境 悠治
日本電子 (株)
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生天目 博文
広大放射光セ
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関 一彦
名大院理
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生天目 博文
広大
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上野 信雄
千葉大融合科学
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佐々木 健
北大院工
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神谷 幸司
千葉大工
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山田 貴久
日本電子(株)電子光学機器技術本部研究開発部saグループ
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吉村 雅満
豊田工業大学ナノハイテク研究センター
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吉村 雅満
豊田工業大学
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上田 一之
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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石川 憲一
豊田工大(院)
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石川 憲一
豊田工業大学
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境 悠治
日本電子株式会社
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増田 茂
東大教養
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山本 達
東大物性研
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橋本 寛
日本電子
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安福 秀幸
物質・材料研究機構
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橋本 寛
日本電子株式会社
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吉村 雅満
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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白石 賢二
NTT物性科学基礎研究所
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磯部 徹彦
慶應義塾大学 理工学部応用化学科
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上田 一之
豊田工大院
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小粥 啓子
豊田工大院
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原田 義也
千葉大学工学部
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増田 茂
東京大学教養学部
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後藤 敬典
名工大
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榊原 伸義
名工大
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水野 幹
名工大
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立川 慶一
名工大
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榊原 伸義
名古屋工業大学
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磯兼 雄一郎
名古屋工業大学
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小沼 弘義
日本電子
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Ueno Nobuo
Department Of Materials Science Faculty Of Engineering Chiba University
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白石 賢二
筑波大学数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻
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市ノ川 竹男
早稲田大学
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青木 優
東大教養
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吉村 雅満
豊田工大
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山本 達
東大院総合
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嘉藤 誠
日本電子(株)
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山本 達
東大教養
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重川 秀実
筑波大
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山本 達
オランダ原子分子国立研究所:東大物性研
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多田 博一
京大院工
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吉田 勝治
名古屋工業大学
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岩田 弘
名古屋工業大学生産システム工学科
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増田 茂
東大院総合
著作論文
- 先端追跡
- 走査型水素検出顕微鏡の開発とその応用
- 走査型水素検出顕微鏡による水素の2次元分布測定
- 走査型オージェ電子顕微鏡による仕事関数の測定とその応用
- マイクロカロリメータによるX線分光器
- 表面分子一層に敏感な表面電子顕微鏡の試作 - ペニング電子分光と組み合わせた表面電子顕微鏡 -
- VAMAS-Type CMAによる標準スペクトルへの一歩
- オージュ電子利得の絶対測定 : スペクトルと真空系
- オ-ジェ電子絶対測定用CMA(VAMASタイプ)の作製--CMA内の漏れ磁場補正方式の検討 (第30回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス)
- オ-ジェ電子利得の絶対測定-1-CMAの設計
- 3p-E-10 平行平板型増倍管検出器による軟X線分光
- 先端追跡
- 31p-F-5 メタステーブル電子放射顕微鏡による固体表面の観測 : SiO_2/Si(100)のエネルギー選別像
- オージェ電子分光法
- 29a-ZS-5 メタステーブル電子放射顕微鏡による2次元拡散過程の観測 : グラファイト上のCIAIフタロシアニン
- 低エネルギ一電子顕微鏡による表面分析
- 先端追跡
- オージェ電子絶対測定用CMA (VAMASタイプ) の作製 : CMA内の漏れ磁場補正方式の検討
- オージエ電子利得の絶対測定 (I) : CMAの設計
- オージェ電子分光による化学状態分析の現状