上田 一之 | 豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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概要
関連著者
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上田 一之
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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上田 一之
豊田工業大学 ナノハイテクリサーチセンター
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上田 一之
豊田工
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吉村 雅満
豊田工業大学ナノハイテク研究センター
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吉村 雅満
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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吉村 雅満
豊田工業大学
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吉村 雅満
豊田工大
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石川 憲一
豊田工大(院)
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石川 憲一
豊田工業大学
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安 東秀
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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柴田 秀幸
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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川木 俊輔
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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文 元鐵
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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小嶋 薫
豊田工業大学
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境 悠治
日本電子(株)
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安 東秀
豊田工業大学大学院工学研究科
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阪巻 なみ
豊田工業大学大学院工学研究科
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赤石 憲也
豊田工業大学極限材料
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岡田 有史
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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野村 宏治
大阪大学工学部応用物理学専攻
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山田 正明
名古屋工業大学工学研究科しくみ領域
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田中 一英
名古屋工業大学
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赤石 憲也
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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日比野 清秀
名古屋工業大学工学研究科しくみ領域
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鈴木 正則
名古屋工業大学工学研究科しくみ領域
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田中 一英
豊田理化学研究所
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山賀 敦司
豊田工業大学ナノハイテクリサーチセンター
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伊藤 由貴
豊田工業大学
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永田 清一
豊田工業大学
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小粥 啓子
豊田工業大学(院)
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小野 泉
豊田工業大学
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上田 一之
豊田工業大学極限材料専攻
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村野 宏治
大阪大学工学部
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赤石 憲也
豊田工業大学 極限材料専攻
著作論文
- グラファイト基板上へのカーボンナノ構造の成長
- Si(001)c(4×4)-Snの走査トンネル顕微鏡 : 同軸型直衝突イオン散乱分光法による解析
- 走査型トンネル顕微鏡によるBa/Si(100)の成長過程の観察
- シリコン材料におけるSTM
- 走査型水素検出顕微鏡の開発とその応用
- 8p-B-12 TOF-ESDによる固体表面上の水素の二次元局所分析
- 低速イオン散乱法によるSi(100)表面へのヘテロエピタキシー
- バナジウム系水素吸蔵合金からの水素の電子励起脱離
- 水素顕微鏡によるMg-Ni系2相合金表面に吸着・吸蔵した水素の2次元分布状態の観察
- 29a-PF-47 TOF-ESDによる金属表面上の水素原子の挙動
- アルカリハライドからの電子励起イオン脱離(I)
- 電子励起脱離法を応用した水素顕微鏡 : 水素の可視化
- 電子励起を応用した水素顕微鏡
- 走査型水素顕微鏡によるポーラスシリコン上の水素と酸素の挙動
- 新世紀の表面科学研究への期待
- SEM-EDXによる深さ方向分析
- 水素終端Si表面におけるNiシリサイド形成の制御
- 水素顕微鏡による水素の挙動の観察
- Si(001)c(4×4)-Snの走査トンネル顕微鏡 : 同軸型直衝突イオン散乱分光法による解析
- 水素顕微鏡による水素の挙動の観察
- 電子励起イオン脱離法による水素の分析
- 電子励起脱離法による表面上の水素と酸素の挙動
- 電子励起イオン脱離法による走査型水素検出顕微鏡
- 走査型水素検出顕微鏡
- 29a-PS-9 STMによるSi(100)表面および水素終端Si(100)表面Ni吸着系の研究
- 5.局所表面分析の基礎(炉壁材料分析技術IV)
- 水素吸着Si(001)表面の熱アニールによる再結晶化過程
- 電子励起脱離によるシリコン表面上の微量酸素の検出