市ノ川 竹男 | Department Of Applied Physics Waseda University

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• Department Of Applied Physics Waseda Universityの論文著者

関連著者

• 市ノ川 竹男

  早稲田大学 理工学部

• 市ノ川 竹男

  Department Of Applied Physics Waseda University

• 市ノ川 竹男

  早大理工

• 井藤 浩志

  早大理工

• 井藤 浩志

  早稲田大学応用物理学科

• 安 東秀

  早稲田大学応用物理学科

• 安 東秀

  早大理工

• 川崎 豊誠

  早大理工

• 藤井 宣亨

  早大理工

• 川島 義也

  早大理工

• 柳 寛

  早大理工

• 井上 大

  早大理工

• Winau D

  早大理工

• 大島 忠平

  早稲田大学 各務記念材料技術研究所

• 大島 忠平

  早稲田大学理工学部

• Winau D.

  早大理工

• 池田 太郎

  早大理工

• 渡辺 敏文

  早大理工

• 伊藤 純

  早大理工

• 大屋 誠

  早大理工

• 市ノ川 竹男

  早稲田大学

• 萩野谷 千積

  早大理工

• 大島 忠平

  早大理工

• 白木 一郎

  山梨大医工

• 佐藤 崇広

  早大理工

• 白木 一郎

  早大理工

• 田邉 秀樹

  早大理工

• 境 悠治

  日本電子(株)

• 安松 拓人

  早大理工

• 遠藤 徳明

  日本電子 応用研セ

• 遠藤 徳明

  日本電子株式会社応用研究センター

• 遠藤 徳明

  日本電子

• 増田 茂

  東大院総合文化

• 大井 喜久夫

  早大理工

• 大谷 茂樹

  無機材研

• 石沢 芳夫

  無機材研

• 大島 忠平

  早稲田大学理工学部応用物理学科

• 柴田 昌照

  日本電子株式会社応用研究センター

• 和田 純一

  東芝ulsi研究所

• 川崎 豊誠

  早稲田大学応用物理学科

• 成井 誠司

  早大理工

• 川村 和郎

  早大理工

• 柴田 昌輝

  日本電子(株)

• 釜崎 清治

  東京都立大学大学院 工学研究科

• R.J Baird

  Ford Res.Lab.

• 篠崎 信一

  Ford Res.Lab.

• 原田 義也

  千葉大工

• Baird R.J.

  Ford Res.Lab.

• 坂倉 仁

  早大理工

• 遠井 茂男

  早大理工

• 早坂 信夫

  東芝ULSI研

• 杉崎 太郎

  早大理工

• 村瀬 義治

  早大理工

• 伊藤 浩志

  早大理工

• 鈴木 俊明

  日本電子 応用研セ

• 大島 忠平

  早稲田大学

• 釜崎 清治

  首都大学東京 大学院都市環境科学研究科

• 釜崎 清治

  東京都立大学大学院

• 和田 純一

  東芝ulsi研

• 釜崎 清治

  東京都立大学

• 上野 信雄

  千葉大工

• 梅内 誠

  日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所

• 工藤 正博

  東北大工材研

• 長島 礼人

  早大理工

• 奴賀 謙治

  早大理工

• 佐藤 耕輔

  早大理工

• 笠村 秀明

  MST

• 工藤 正博

  MST

• 北村 和夫

  早大理工

• 上野 信雄

  千葉大融合科学

• 鈴木 俊明

  日本電子株式会社

• 鈴木 俊明

  日本電子(株)

• 嘉藤 誠

  日本電子株式会社

• 境 悠治

  日本電子株式会社

• 大槻 義彦

  早大

• 大槻 義彦

  早大理工

• 山本 達

  東大物性研

• 田中 治雄

  早稲田大学理工学部

• 大槻 義彦

  早稲田大学理工学部

• 安福 秀幸

  物質・材料研究機構

• 柴田 昌照

  日本電子株式会社

• 伊藤 昭

  東大生産研

• 原田 義也

  千葉大学工学部

• 増田 茂

  東京大学教養学部

• 大谷 茂樹

  無機材質研究所

• 白木 一朗

  早大理工

• 伊藤 昭

  早大理工

• 遠藤 徳明

  日本電子株式会社

• 田辺 秀樹

  早大理工

• 梅内 誠

  早大材研

• 梅内 誠

  Nttアクセスサービスシステム研究所

• 飯塚 義尚

  早大材研

• 梅内 誠

  早大理工

• 長尾 忠昭

  早大理工

• 飯塚 義尚

  早大理工

• 後藤 仁

  早大理工

• Ueno Nobuo

  Department Of Materials Science Faculty Of Engineering Chiba University

• 金 祺和

  早大理工

• 大和田 健

  早大理工

• 坂井 大輔

  早稲田大学大学院

• 田中 治雄

  早大理工

• 飯高 利晃

  早大理工

• 大槻 義彦

  早大理工物理

• 井ノ川 竹男

  早大理工

• 遠藤 徳明

  日本電子(株)

• 遠藤 徳明

  早大理工

• 山本 達

  東大院総合

• 安福 秀幸

  千葉大工

• 嘉藤 誠

  日本電子(株)

• 岡田 耕次郎

  早大理工

• 二宮 章浩

  早大理工

• 後籐 仁

  早大理工

• 早坂 伸夫

  東芝ULSI研

• 藤井 宣

  早大理工

• 福岡 昌浩

  早大理工

• 角田 勝義

  電気化学工業

• 堺 悠治

  日本電子

• 田邊 秀樹

  早大理工

• 荻野谷 千積

  早大理工

• 飯泉 浩志

  早大理工

• 坂井 大輔

  早大理工

• 長島 礼人

  東京工業大学理学部物理学科

• 大槻 義彦

  東大 工 物工

• 大谷 茂樹

  物質・材料研究機構

• 山本 達

  オランダ原子分子国立研究所:東大物性研

• 鈴木 俊明

  日本電子株式会社応用研究センター

• 大槻 義彦

  早稲田大 理工

• 大槻 義彦

  東大教養物理

• 増田 茂

  東大院総合

もっと見る 閉じる

著作論文

• 29p-PS-23 角度分解型電子分光法によるTaC(100)面上の単原子層グラファイトの観察
• 走査型オージェ電子顕微鏡による仕事関数の測定とその応用
• 表面分子一層に敏感な表面電子顕微鏡の試作 - ペニング電子分光と組み合わせた表面電子顕微鏡 -
• 走査型トンネル顕微鏡によるH/Si(110)表面での昇温脱離過程の観察
• 5a-B-8 H/Si(110)表面での水素の昇温脱離過程のSTM観察
• 29a-PS-34 Cu/Siにおける表面偏析、吸着構造、ドメインのSTM、SEMおよびμ-LEEDによる解析
• 29a-PS-6 Si(110)上の水素吸着構造と熱脱離によるドメイン構造の変化
• Si(111)Cu-"5×5"構造とドメイン方向の解析
• Si(100)水素吸着系におけるSingle domainからDouble domainへの相変化
• 3p-K-12 Cu/Si(110)表面構造のSTM観察
• 3a-J-10 Cu/Si(100)における表面偏析と表面構造のSTMによる解析
• 30a-PS-11 Si(001)微斜面のステップの挙動
• 30a-PS-6 Cu/Si(100)における表面再配列構造のSTM観察
• 31p-S-7 Bが偏析したSi(111)表面での金属成長過程のSTM観察
• 29a-J-6 Si(111)上のBの表面偏析過程のSTM観察
• 4a-Q-9 Si-B吸着系のSTM観察
• 2p-PSA-35 Si(001)微斜面上での多原子層ステップ
• 30p-H-1 Si(001)上のPb薄膜のSEM、STMによる観察
• 28a-ZF-8 LaB_6(100)の表面フォノン
• 1a-H-6 Si(100)におけるPb蒸着系のSEM-LEEDによる観察
• 29a-H-12 トンネル電子の磁場による集束
• 29a-T-2 Cu/Si{(100), (110), (111)}の急冷による表面偏析と表面構造
• 5a-Q-3 Cu/Si(001)とCu/Si(111)における高温での成長過程の比較
• 3a-Q-12 Cu/Si(100)の質量分析器、微斜面によるシングルドメインでの解析
• 31p-WC-1 Cu/Si(100)の質量分析器, LEED-AESによる研究
• 15a-DH-1 LEED-AESによるSi(100)-Ti吸着系の研究
• ナノテクノロジーをサポートするSIM像の応用
• 走査型トンネル顕微鏡によるSi(110)面上のホモエピタキシャル成長の観察
• 8p-B-2 α-Cu-Al(111)表面の相転移の走査型LEED顕微鏡による観察II
• 31p-F-5 メタステーブル電子放射顕微鏡による固体表面の観測 : SiO_2/Si(100)のエネルギー選別像
• Cu/SiO_2における接触角振動の定量分析
• α-Cu-Al(111)表面の相転移の走査型LEED顕微鏡による観察 I
• 31p-PSB-79 Al_2O_3上の液体Alアイランドのぬれ角振動現象
• 31p-PSB-15 超高真空SEM-STM複合分析装置によるSi表面の観察
• 30a-PS-45 SEM-STM複合装置の開発
• 30a-PS-21 走査型LEED顕微鏡によるCu/Si(111)の観察
• 29p-PSB-20 SiO_2上の液体Cuアイランドのぬれ角振動現象II
• 31a-J-13 SiO_2上の液体Cuアイランドのぬれ角振動現象
• 5a-Q-1 アモルファスSiO_2上における単結晶金属細線の形成
• 29p-WC-1 SiO_2上におけるAlの単結晶化の動的観察
• 28p-WB-5 Si(001)微斜面上における4原子層ステップ形成のSTM観察
• 14p-DJ-12 Si(100)上におけるCu及びAgクラスターのマイグレーション
• 14p-DJ-2 Si(001)微斜面のSTM観察
• 13a-PS-45 超高真空表面分析用超小型熱電界放射電子銃の開発
• 13a-PS-22 Si(001)上のAg薄膜のSTM観察
• 13a-PS-12 Si(110)上の金属クラスターの温度勾配及び電場によるマイグレーション
• 1a-H-7 Si(100)における金属クラスターの温度勾配及び電場によるマイグレーション
• 1a-H-5 LEED-AESによるSi(100) : Mg吸着系の研究
• 30a-H-12 Si(001)上のAg(111)及びAg(001)の結晶成長のSTMによる観察
• 28a-S-4 TEMによるα-Ta_2O_5の相転移観察
• 26a-Y-6 LEED-AESによるSi(100)-Pb吸着系の研究 II
• 26a-Y-4 Si(001)上のAl薄膜の成長過程のSTM観察
• 25a-Y-10 Si(100)上金属アイランドの温度勾配によるマイグレーション
• 27a-ZB-8 TEMによるα-Ta_2O_5の相転移
• 30a-ZF-10 Si(001)の2原子層ステップのSTMによる観察
• 30a-ZF-7 Si上金属の初期成長過程のSTM観察
• 28a-ZS-13 SEMによる金属アイランドエレクトロマイグレーションの観察
• 27p-ZS-6 LEED-AESによるSi(100)-Pb吸着系の研究
• 表面の構造を観察する - 超高真空走査型電子顕微鏡 (UHV-SEM) -
• 観察装置としての集束イオンビームの応用

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク